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发明名称 JTAG TEST ARCHITECTURE FOR MULTI-CHIP PACK
摘要
申请公布号 EP1706752(B1) 申请公布日期 2008.05.07
申请号 EP20050702239 申请日期 2005.01.05
申请人 NXP B.V. 发明人 TALAYSSAT, JACKY;BUWALDA, SAKE
分类号 G01R31/3185 主分类号 G01R31/3185
代理机构 代理人
主权项
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