发明名称 射线照相设备
摘要 用于处理层析体图像数据的像素数据的重构处理使用简明的重构算法,所述重构算法基于X射线发射轴的轴线总是存在于与X射线管和FPD的旋转轴正交的平面上。在重构处理时,将校正参数应用于所述重构算法,用于校正X射线管的旋转轴和X射线发射轴之间出现的机械位移。因此,通过针对重构算法设置校正参数的简单数据处理,可以避免由于机械位移所引起的误差,而不会削弱在重构算法上的数据处理负载的减轻程度。
申请公布号 CN100386056C 申请公布日期 2008.05.07
申请号 CN200410101144.2 申请日期 2004.12.16
申请人 株式会社岛津制作所 发明人 森田尚孝
分类号 A61B6/03(2006.01) 主分类号 A61B6/03(2006.01)
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 王霞
主权项 1.一种射线照相设备,包括辐射发射装置,用于以锥状波束将辐射发射到待检查对象的重要部位;二维辐射检测装置,用于检测根据锥状波束中发射的辐射得到的、所传送的对象的辐射图像;图像拾取系统扫描装置,用于通过围绕通过所述对象延伸的直线所提供的旋转轴旋转所述辐射发射装置和所述二维辐射检测装置,同时保持所述辐射发射装置和所述二维辐射检测装置跨越所述对象彼此相对,扫描所述重要部位;以及重构处理装置,用于根据响应锥状波束中发射的辐射而从所述二维辐射检测装置中输出的辐射图像检测数据,以及根据重构算法,利用实质上针对重要部位设置的格点矩阵上的层析体图像数据的像素数据,执行图像重构处理,由所述重构处理装置所使用的重构算法的特征在于:(A)假定辐射发射轴一直存在于与所述辐射发射装置和所述二维辐射检测装置的旋转轴正交的平面上;以及(B)由所述重构处理装置在所述重构处理时应用于所述重构算法的参数是平面相关的倾斜校正参数,用于校正辐射发射轴相对于与旋转轴正交的平面倾斜的方式下的机械位移;所述射线照相设备,还包括:测量装置,用于测量所述辐射相对于发射轴生成的机械位移;参数计算装置,用于根据由所述测量装置测量到的机械位移量来计算校正的平面相关的校正参数;参数存储装置,用于存储由所述参数计算装置计算出的校正参数;其中,所述重构处理装置还包括高速缓冲存储器,用于每次读取连续数据,以及所述重构处理装置利用由所述图像拾取系统扫描装置扫描辐射发射装置和所述二维辐射检测装置时所获得的对象的截面图像数据以及在所述参数存储装置中存储的校正参数来执行重构处理。
地址 日本京都府