| 发明名称 | 超导线圈测试 | ||
| 摘要 | 一种测试在超导材料层中形成的超导线圈路径的方法。在具有大体曲表面的模架(6)上提供所述材料。该方法包括扫描所述层以检测所述层中的缺陷的步骤。 | ||
| 申请公布号 | CN100385579C | 申请公布日期 | 2008.04.30 |
| 申请号 | CN200480006145.7 | 申请日期 | 2004.03.05 |
| 申请人 | 涂层导体柱体有限公司 | 发明人 | E·马厄 |
| 分类号 | H01F41/04(2006.01);H01L39/24(2006.01);G01N23/18(2006.01);G01N27/82(2006.01);H01F6/06(2006.01) | 主分类号 | H01F41/04(2006.01) |
| 代理机构 | 北京北翔知识产权代理有限公司 | 代理人 | 陈霁;郑建晖 |
| 主权项 | 1.一种在用于超导线圈的薄膜材料层中制作轨道的方法，所述层在具有曲表面的模架上形成，该方法包括步骤：(i)通过探测构成所述层的材料的物理特性而不在所述层中限定线圈路径以提供所述物理特性的数据集，来扫描所述层以检测所述层中的缺陷；(ii)处理所述数据集以形成具有表明所述层上所述物理特性的变化的特征的布局图；(iii)分析所述布局图的特征以识别和定位所述层中的缺陷；(iv)识别每个缺陷是否是不可修复的；(v)计算最佳路径，其中所述计算包括避开任何不可修复缺陷；以及(vi)在所述层中限定所述最佳路径以限定线圈轨道。 | ||
| 地址 | 英国伍斯特郡 | ||