| 发明名称 | 具有流量检验装置的颗粒采样系统 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种颗粒采样系统(18)。该颗粒采样系统可包括排气采样单元(24)和向该排气采样单元供应稀释空气的稀释流组件(26)。所述颗粒采样系统也可包括接收稀释空气和排气的总流组件(28)。所述颗粒采样系统还可包括构造成控制所述稀释流组件和总流组件中的流量的流量调节组件(70，72，76，80)。所述颗粒采样系统还可包括构造成测量所述流量调节组件的精度的流量检验组件(32)。 | ||
| 申请公布号 | CN101166963A | 申请公布日期 | 2008.04.23 |
| 申请号 | CN200680014037.3 | 申请日期 | 2006.03.16 |
| 申请人 | 卡特彼勒公司 | 发明人 | R·R·小格雷兹;J·K·兰德尔 |
| 分类号 | G01M15/10(2006.01);F01N11/00(2006.01) | 主分类号 | G01M15/10(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市中咨律师事务所 | 代理人 | 吴鹏;马江立 |
| 主权项 | 1.一种颗粒采样系统，包括：构造成接收排气的排气采样单元(24)；设于所述排气采样单元上游并构造成向该排气采样单元供应稀释空气的稀释流组件(26)；设于所述排气采样单元下游并构造成接收稀释空气和排气的总流组件(28)；构造成控制所述稀释流组件和所述总流组件中的流量的流量调节组件(70，72，76，80)；以及构造成测量所述流量调节组件的精度的流量检验组件(32)。 | ||
| 地址 | 美国伊利诺伊州 | ||