发明名称 |
一种非线性晶体激光损伤阈值的测量方法 |
摘要 |
一种非线性晶体激光损伤阈值的测量方法,涉及一种非线性晶体激光损伤阈值的测量方法。应用高功率连续、准连续固体激光器照射非线性晶体器件,采用He-Ne激光散射法,通过硅光电二极管来接收激光照射非线性晶体器件时,晶体前后表面对He-Ne激光的散射变化,形成脉冲TTL信号,利用继电器来控制设置在光路上的挡板(Shutter),利用计时器来记录激光照射时间。逐渐加大激光的输出功率,直至硅光电二极管观测到He-Ne激光的散射变化。通过计算这时作用于非线性晶体器件表面的激光功率密度,计算出非线性晶体器件在连续、准连续激光照射下的激光损伤阈值。 |
申请公布号 |
CN101165474A |
申请公布日期 |
2008.04.23 |
申请号 |
CN200610140892.0 |
申请日期 |
2006.10.16 |
申请人 |
中国科学院福建物质结构研究所 |
发明人 |
兰国政;吴少凡;林文雄 |
分类号 |
G01N21/84(2006.01);G01N21/49(2006.01) |
主分类号 |
G01N21/84(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
1.一种非线性晶体激光损伤阈值的测量方法,其特征在于:应用高功率连续、准连续固体激光器照射非线性晶体器件,采用He-Ne激光散射法,通过硅光电二极管来接收激光照射前后非线性晶体器件表面对He-Ne激光的散射变化,形成脉冲TTL信号,利用继电器来控制设置在光路上的挡板,利用计时器来记录激光照射时间;逐渐加大连续激光的输出功率,直至硅光电二极管观测到He-Ne激光的散射变化;通过计算这时作用于非线性晶体器件表面的激光功率密度,计算出非线性晶体器件在连续、准连续激光照射下的激光损伤阈值。 |
地址 |
350002福建省福州市杨桥西路155号 |