发明名称 一种非线性晶体激光损伤阈值的测量方法
摘要 一种非线性晶体激光损伤阈值的测量方法,涉及一种非线性晶体激光损伤阈值的测量方法。应用高功率连续、准连续固体激光器照射非线性晶体器件,采用He-Ne激光散射法,通过硅光电二极管来接收激光照射非线性晶体器件时,晶体前后表面对He-Ne激光的散射变化,形成脉冲TTL信号,利用继电器来控制设置在光路上的挡板(Shutter),利用计时器来记录激光照射时间。逐渐加大激光的输出功率,直至硅光电二极管观测到He-Ne激光的散射变化。通过计算这时作用于非线性晶体器件表面的激光功率密度,计算出非线性晶体器件在连续、准连续激光照射下的激光损伤阈值。
申请公布号 CN101165474A 申请公布日期 2008.04.23
申请号 CN200610140892.0 申请日期 2006.10.16
申请人 中国科学院福建物质结构研究所 发明人 兰国政;吴少凡;林文雄
分类号 G01N21/84(2006.01);G01N21/49(2006.01) 主分类号 G01N21/84(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 1.一种非线性晶体激光损伤阈值的测量方法,其特征在于:应用高功率连续、准连续固体激光器照射非线性晶体器件,采用He-Ne激光散射法,通过硅光电二极管来接收激光照射前后非线性晶体器件表面对He-Ne激光的散射变化,形成脉冲TTL信号,利用继电器来控制设置在光路上的挡板,利用计时器来记录激光照射时间;逐渐加大连续激光的输出功率,直至硅光电二极管观测到He-Ne激光的散射变化;通过计算这时作用于非线性晶体器件表面的激光功率密度,计算出非线性晶体器件在连续、准连续激光照射下的激光损伤阈值。
地址 350002福建省福州市杨桥西路155号