可同时多颗平行置入测试之IC检测机(二) IC TESTING MACHINE CAPABLE OF SIMULTANEOUSLY TESTING A PLURALITY OF INTEGRATED CIRCUITS

摘要

一种可同时多颗平行置入测试之IC检测机(二)，其主要系由输入端IC输送机构将供料匣上之待测IC吸取移置至第一载送治具，并使第一载送治具上同时承置多颗之待测IC，该第一载送治具系以轨道传送机构架置于测试埠外周侧，并可利用轨道传送机构将第一载送治具直接移送至测试埠内，再以测试埠内之吸嘴将多颗之待测IC吸起，于载送治具退出后，吸嘴下降将多颗之待测IC压入测试板，以同时进行测试作业，于完成测试作业后，吸嘴上升吸起多颗之完测IC，第二载送治具则移入测试埠，供吸嘴下降将多颗之完测IC置入，利用轨道传送机构将第二载送治具移出测试埠，再以输出端IC输送机构依据测试结果，将第二载送治具内各完测之IC进行分类取放于各收料匣内；藉此，利用载送治具同时将多颗IC移送至测试埠进行测试，不仅可大幅缩减IC交换取放移置的时间，亦可有效缩减IC测试的时间，进而使检测机有效提升测试的产能，达到提高使用效益之目的。

主权项

1.一种可同时多颗平行置入测试之IC检测机(二),其 主要包括有: 至少一供料匣:系承置有复数个待测之IC; 至少一收料匣:系可依据测试结果,供承置完测之IC ; 至少一测试埠:系装设有连结测试讯号至中央控制 器之测试板,该测试板上并设有可供待测IC置入之 复数个测试座,以进行IC的测试作业; 轨道传送机构:系架设于测试埠之周侧; 第一载送治具:系承置于轨道传送机构之一侧,而 可由轨道传送机构移送至入料区与测试区间,以进 行入料及测试作业,该第一载送治具并排列设有复 数个承置产,以同时承置多颗待测IC; 第二载送治具:系承置于轨道传送机构之另侧,而 可由轨道传送机构移送至出料区与测试区间,以进 行出料作业,该第二载送治具并排列设有复数个承 置座,以同时承置多颗完测IC; 至少一IC输送机构:系设有可作多方向位移之取放 头,而可移置于供料匣、收料匣及第一、二载送治 具间,并吸取移置IC。 2.依申请专利范围第1项所述之可同时多颗平行置 入测试之IC检测机(二),其中,该测试埠内之测试板 上的测试座数量,系可对应第一、二载送治具之承 置座的数量,以供第一载送治具上多颗之待测IC同 时压入进行测试作业。 3.依申请专利范围第1项所述之可同时多颗平行置 入测试之IC检测机(二),其中,该轨道传送机构上系 可分别区分有入料区、测试区及出料区,以供第一 、二载送治具进行入料、测试及出料作业。 4.依申请专利范围第1项所述之可同时多颗平行置 入测试之IC检测机(二),其中,该IC输送机构之取放 头系设有复数支吸嘴,以同时吸取移置多颗之IC。 5.依申请专利范围第1项所述之可同时多颗平行置 入测试之IC检测机(二),其中,该IC输送机构系包括 有输入端IC输送机构及输出端IC输送机构,以分别 吸取移置IC。 6.依申请专利范围第5项所述之可同时多颗平行置 入测试之IC检测机(二),其中,该输入端IC输送机构 系将待测IC由供料匣吸取移置至第一载送治具。 7.依申请专利范围第5项所述之可同时多颗平行置 入测试之IC检测机(二),其中,该输出端IC输送机构 系将完测IC由第二载送治具吸取移置至收料匣。 8.依申请专利范围第1项所述之可同时多颗平行置 入测试之IC检测机(二),其中,该收料匣系区分有良 品收料匣及不良品收料匣。 9.依申请专利范围第1项所述之可同时多颗平行置 入测试之IC检测机(二),其中,该测试埠内系设有可 升降之吸嘴,以吸取待测IC并下降压入测试板,并使 其接脚接触测试板之测试座接点,以进行测试作业 。 图式简单说明: 第1图:系为习式IC检测机之配置示意图。 第2图:系为习式IC检测机之检测台与压接机构之配 置示意图。 第3图:本发明之俯视架构图。 第4图:本发明之配置示意图。 第5图:本发明载送治具之外观示意图。 第6图:本发明测试板之外观示意图。 第7图:本发明之动作示意图(一)。 第8图:本发明之动作示意图(二)。 第9图:本发明之动作示意图(三)。 第10图:本发明之动作示意图(四)。 第11图:本发明之动作示意图(五)。 第12图:本发明之动作示意图(六)。 第13图:本发明之动作示意图(七)。 第14图:本发明之动作示意图(八)。 第15图:本发明之动作示意图(九)。