发明名称 |
半导体封装件及其制造方法 |
摘要 |
本发明提供一种可以实现小型轻量化,同时提高封装件制品的可靠性的半导体封装件以及制造方法。为此,本发明与采用引线键合、带键合、倒装芯片键合等,在金属膜、陶瓷、基板等基底上安装多个半导体芯片的现有的半导体封装件不同,由于在起引线框架或基板作用的一个半导体芯片上,采用金属图形直接安装多个半导体芯片,所以能够有效地实现半导体封装件的小型轻量化和低成本化,由于使用金属图形直接地连接半导体芯片,所以就半导体封装件的电气特性而言,能够进一步提高可靠性。 |
申请公布号 |
CN100380658C |
申请公布日期 |
2008.04.09 |
申请号 |
CN02126588.7 |
申请日期 |
2002.06.15 |
申请人 |
东部亚南半导体株式会社 |
发明人 |
朴桂灿 |
分类号 |
H01L25/00(2006.01);H01L23/48(2006.01);H01L21/50(2006.01) |
主分类号 |
H01L25/00(2006.01) |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
杨梧;马高平 |
主权项 |
1.一种半导体封装件,包含相互电气连接的多个半导体芯片,其特征在于,包括:主半导体芯片,其起引线框架或基板的作用,在外周边设置有多个主芯片焊盘;至少一个副半导体芯片,其安装在所述主半导体芯片上的规定部分,外周边设置有多个副芯片焊盘;绝缘层,其以埋置所述副半导体芯片的状态,形成于主半导体芯片上,使所述主芯片焊盘和副芯片焊盘露出;多个金属图形,其包含在所述主芯片焊盘上形成的下阻挡层、在所述下阻挡层上形成的籽晶层和在所述籽晶层上形成的金属层,在所述露出的任意的主芯片焊盘和副芯片焊盘之间,或者任意的副芯片焊盘和其它副芯片焊盘之间形成电气连接;多个焊料键合区,其形成在所述多个金属图形上的规定部分。 |
地址 |
韩国首尔 |