发明名称 |
一种微控制器JTAG调试方法 |
摘要 |
本发明涉及一种微控制器JTAG调试方法,其特征在于包括以下步骤:通过配置的JTAG接口,使用TAP命令访问仿真调试模块,执行调试命令,从而达到实现在线仿真的目的。本发明使用标准的JTAG协议,使用命令具有扩展性,也较为简单,可以作为单独模块使用,具有很强的可移植性。本系统通过JTAG通讯接口,可让芯片从正常模式进入调试模式,可以实时修改和查看内部SFR,RAM,GPR的内容,查看ROM内容,支持目标芯片单步运行和断点的设置,可监控地址和数据总线,实现实时跟踪功能。 |
申请公布号 |
CN101154184A |
申请公布日期 |
2008.04.02 |
申请号 |
CN200610116868.3 |
申请日期 |
2006.09.29 |
申请人 |
上海海尔集成电路有限公司 |
发明人 |
谷志坤;赵启山;史卫东 |
分类号 |
G06F11/36(2006.01) |
主分类号 |
G06F11/36(2006.01) |
代理机构 |
上海智信专利代理有限公司 |
代理人 |
王洁 |
主权项 |
1.一种微控制器JTAG调试方法,其特征在于一种基于JTAG的芯片内部在线调试模块,实现外部对芯片内部进行调试控制功能,包括以下步骤:通过配置JTAG接口,从外部访问芯片调试模块;利用外部上层软件,使用扩展的标准TAP命令;进而通过执行调试命令来查看芯片内部状态,对芯片进行控制。 |
地址 |
200030上海市中山南二路1089号徐汇苑大厦15楼 |