发明名称 一种微控制器JTAG调试方法
摘要 本发明涉及一种微控制器JTAG调试方法,其特征在于包括以下步骤:通过配置的JTAG接口,使用TAP命令访问仿真调试模块,执行调试命令,从而达到实现在线仿真的目的。本发明使用标准的JTAG协议,使用命令具有扩展性,也较为简单,可以作为单独模块使用,具有很强的可移植性。本系统通过JTAG通讯接口,可让芯片从正常模式进入调试模式,可以实时修改和查看内部SFR,RAM,GPR的内容,查看ROM内容,支持目标芯片单步运行和断点的设置,可监控地址和数据总线,实现实时跟踪功能。
申请公布号 CN101154184A 申请公布日期 2008.04.02
申请号 CN200610116868.3 申请日期 2006.09.29
申请人 上海海尔集成电路有限公司 发明人 谷志坤;赵启山;史卫东
分类号 G06F11/36(2006.01) 主分类号 G06F11/36(2006.01)
代理机构 上海智信专利代理有限公司 代理人 王洁
主权项 1.一种微控制器JTAG调试方法,其特征在于一种基于JTAG的芯片内部在线调试模块,实现外部对芯片内部进行调试控制功能,包括以下步骤:通过配置JTAG接口,从外部访问芯片调试模块;利用外部上层软件,使用扩展的标准TAP命令;进而通过执行调试命令来查看芯片内部状态,对芯片进行控制。
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