| 发明名称 | 芯片上的微电子检测器及其制造和应用方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种供微量分析系统中使用的微电子检测器。该微电子检测器包括：一具有一第一表面的第一基片，包括至少一个微通道和至少一个与所述微通道流体联通的储蓄器；一具有设置于所述第一基片的所述第一表面上的第二表面的第二基片；以及一传感部分，包括至少一对用于检测的第一电极，并沿所述微通道设置在所述第二基片的所述第二表面上，从而所述第一电极被设置成面向所述微通道的底面。 | ||
| 申请公布号 | CN100378451C | 申请公布日期 | 2008.04.02 |
| 申请号 | CN02147903.8 | 申请日期 | 2002.10.28 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 尹大成;赵允卿;姜成浩;李英善;林根培 |
| 分类号 | G01N27/00(2006.01);G01N27/26(2006.01);G01N27/447(2006.01);G01N33/50(2006.01) | 主分类号 | G01N27/00(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 王景刚 |
| 主权项 | 1.一种供微量分析系统中使用的微电子检测器，包括：一具有一第一表面的第一基片，包括至少一个微通道和至少一个与所述微通道流体联通的储蓄器；一具有设置于所述第一基片的所述第一表面上的第二表面的第二基片；以及一传感部分，包括至少一对用于检测的第一电极，并沿所述微通道设置在所述第二基片的所述第二表面上，从而所述第一电极被设置成面向所述微通道的底面。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||