发明名称 管制规格界限之制定方法
摘要 本案系揭露提供一种统计制程管制(Statistical Process Control, SPC)之管制规格界限的制定方法,包含下列步骤a)提供一样本群体;b)自该样本群体,以一拔靴重抽样(Bootstrap Resampling)方式选取出 k 组拔靴重抽样样本(Bootstrap Samples)群体;c)自该 k 组拔靴重抽样样本群体,分别求得k组样本平均值与相对标准差:以及 d)自该k 组样本平均值与相对标准差,求得一管制平均值与一管制标准差,其中该管制规格界限为该管制平均值与该管制标准差之函数。
申请公布号 TW200815771 申请公布日期 2008.04.01
申请号 TW095136456 申请日期 2006.09.29
申请人 力晶半导体股份有限公司 发明人 吕建辉;林正淇;张惟富
分类号 G01R31/01(2006.01);G06F17/18(2006.01);G06Q10/00(2006.01);G05B19/418(2006.01) 主分类号 G01R31/01(2006.01)
代理机构 代理人 廖学忠
主权项
地址 新竹市科学工业园区力行一路12号