发明名称 | 管制规格界限之制定方法 | ||
摘要 | 本案系揭露提供一种统计制程管制(Statistical Process Control, SPC)之管制规格界限的制定方法,包含下列步骤a)提供一样本群体;b)自该样本群体,以一拔靴重抽样(Bootstrap Resampling)方式选取出 k 组拔靴重抽样样本(Bootstrap Samples)群体;c)自该 k 组拔靴重抽样样本群体,分别求得k组样本平均值与相对标准差:以及 d)自该k 组样本平均值与相对标准差,求得一管制平均值与一管制标准差,其中该管制规格界限为该管制平均值与该管制标准差之函数。 | ||
申请公布号 | TW200815771 | 申请公布日期 | 2008.04.01 |
申请号 | TW095136456 | 申请日期 | 2006.09.29 |
申请人 | 力晶半导体股份有限公司 | 发明人 | 吕建辉;林正淇;张惟富 |
分类号 | G01R31/01(2006.01);G06F17/18(2006.01);G06Q10/00(2006.01);G05B19/418(2006.01) | 主分类号 | G01R31/01(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 廖学忠 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市科学工业园区力行一路12号 |