发明名称 跌落测试系统及其测试方法
摘要 本发明提供一种跌落测试系统,该跌落测试系统包括一个定位控制器、一个用于对待测试件进行取像及测量该待测试件位置的取像定位装置、一个用于取放待测试件的取放装置以及一个根据所述取像定位装置之测量取像结果来控制该取放装置的控制装置。所述控制装置分别与所述取像定位装置、取放装置及定位控制器电气相连。所述定位控制器在所述控制装置之作用下控制所述取放装置作业。该取放装置在控制装置及定位控制器之控制下,取放待测试件来对其进行跌落测试。该跌落测试系统可以自动取放待测试件,提高了测试速度与测试效率。本发明还涉及上述跌落测试系统之测试方法。
申请公布号 TW200815744 申请公布日期 2008.04.01
申请号 TW095135240 申请日期 2006.09.22
申请人 鸿海精密工业股份有限公司 发明人 凌维成
分类号 G01M7/08(2006.01) 主分类号 G01M7/08(2006.01)
代理机构 代理人
主权项
地址 台北县土城市自由街2号