发明名称 Built-in self test signals for column output circuits in X-Y addressable image sensor
摘要
申请公布号 EP1152599(A3) 申请公布日期 2008.03.26
申请号 EP20010201358 申请日期 2001.04.13
申请人 EASTMAN KODAK COMPANY 发明人 LEE, PAUL POO-KAM
分类号 H04N5/335;H01L27/146;H01L27/148;H04N17/00 主分类号 H04N5/335
代理机构 代理人
主权项
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