发明名称 |
一种薄膜晶体管及其制造方法 |
摘要 |
本发明提供一种薄膜晶体管,其设置于一基板上,此薄膜晶体管至少包含栅极、栅极介电层、半导体层、源极、漏极、钝化层以及保护层。其中栅极设置于基板上,栅极介电层则覆盖栅极与基板。而半导体层则位于栅极上方的栅极介电层之上,且半导体层具有一通道区位于栅极上方,以及位于通道区两侧的源极与漏极区。而源极与漏极设置于通道区的两侧上方,源极与漏极包括阻障层与导电层,其中阻障层位于半导体层的源极与漏极区上,而导电层则位于阻障层之上。钝化层位于源极与漏极的表面上,保护层位于基板、钝化层及半导体层的通道区之上。 |
申请公布号 |
CN101150073A |
申请公布日期 |
2008.03.26 |
申请号 |
CN200710169248.0 |
申请日期 |
2007.11.07 |
申请人 |
友达光电股份有限公司 |
发明人 |
陈柏林;杜国源;蔡文庆;林俊男;吴淑芬 |
分类号 |
H01L21/336(2006.01);H01L21/28(2006.01);H01L29/786(2006.01);H01L29/417(2006.01);H01L29/43(2006.01);H01L27/12(2006.01);H01L23/522(2006.01);G02F1/1362(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/336(2006.01) |
代理机构 |
北京三友知识产权代理有限公司 |
代理人 |
任默闻 |
主权项 |
1.一种薄膜晶体管的制造方法,其特征在于,该方法至少包含:形成一栅极于一基板上;形成一栅极介电层,以覆盖所述的栅极与所述的基板;形成一图案化半导体层,至少覆盖所述的栅极上方的栅极介电层,该图案化半导体层具有一通道区位于所述的栅极上方,以及位于所述的通道区两侧的源极与漏极区;形成源极与漏极,于所述的图案化半导体层的源极与漏极区上;以含氮等离子体处理所述的源极与漏极,以于该源/漏极表面形成一钝化层;形成一保护层,以覆盖所述的钝化层以及部份所述的图案化半导体层。 |
地址 |
台湾省新竹市 |