| 发明名称 | 电流测量装置、测试装置、电流测量方法、及测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种电流测量装置，测量电子器件由输入端所接受的电流，该电流测量装置包括第1电容，用于蓄积在电流测量中作为供给所述电子器件的电压基准的基准供给电压、第1开关，在电流测量前，将电源连接到所述第1电容上，使其蓄积所述基准供给电压，在电流测量中从所述第1电容断开所述电源、电流供给部，在电流测量中，向所述电子器件提供依据所述第1电容上蓄积的所述基准供给电压及所述输入端子的端电压的电流、第1电流测量部，测量供给所述电子器件的供给电流。 | ||
| 申请公布号 | CN101128742A | 申请公布日期 | 2008.02.20 |
| 申请号 | CN200680006066.5 | 申请日期 | 2006.02.22 |
| 申请人 | 爱德万测试株式会社 | 发明人 | 桥本好弘 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01) | 主分类号 | G01R31/28(2006.01) |
| 代理机构 | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 寿宁 |
| 主权项 | 1.一种电流测量装置，测量电子器件从输入端接受的电流，特征在于包括：第1电容，用于在电流测量中蓄积作为供给至所述电子器件的电压基准的基准供给电压、第1开关，在电流测量前，将电源连接到所述第1电容上，使其蓄积所述基准供给电压，在电流测量中从所述第1电容断开所述电源、电流供给部，在电流测量中，向所述电子器件提供依据所述第1电容上蓄积的所述基准供给电压及所述输入端子的端电压的电流、第1电流测量部，测量供给至所述电子器件的供给电流。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||