发明名称 氮化物只读存储器存储单元阵列制造方法
摘要 在本发明的方法中,沟渠被蚀刻,且位线(8)配置于掺杂的源极/漏极区域(3,4)。使用储存层(5,6,7),且将栅极电极(2)配置于沟渠壁。在引入用于栅极电极(2)的多晶硅之后,在所述沟渠中,以平面化的方式往回研磨所述预侧,直到抵达覆盖层(16)的顶侧,其后则将用于所述字线的一多晶硅层(18)用于整个区域上,且将其图案化以形成所述字线。
申请公布号 CN100369257C 申请公布日期 2008.02.13
申请号 CN03815364.5 申请日期 2003.06.12
申请人 因芬尼昂技术股份公司;因芬尼昂技术弗拉斯有限责任两合公司 发明人 J·德佩;C·克莱恩特;C·鲁德维格;J·威尔勒
分类号 H01L27/115(2006.01);H01L21/8246(2006.01) 主分类号 H01L27/115(2006.01)
代理机构 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人 余刚;李丙林
主权项 1.一种用于制造一氮化物只读存储器存储单元阵列的方法,其包含:在一半导体本体(1)或是一半导体层的顶侧,引入一杂质,以形成源极/漏极区域(3,4),将彼此相距一距离且平行配置的沟渠(9)蚀刻至半导体材料,在所述半导体本体(1)或是所述半导体层的所述顶侧上的所述沟渠(9)之间,配置平行于所述沟渠(9)的一位线(8),所述位线是电性传导连接至相关沟渠(9)之间的所述源极/漏极区域(3,4),以及在所述顶侧,所述位线具一用于电性绝缘的覆盖层(16/17),至少于所述沟渠(9)的壁上施用一储存层(5,6,7),以一预定的距离在所述沟渠中配置栅极电极(2),且所述栅极电极(2)是电性传导连接至字线,所述字线是以横切于所述位线(8)的方向的形式来配置,其中,以所述存储单元阵列外部的所述字线(8)来将支撑结构(24)图案化,在引入用于所述栅极电极(2)的多晶硅至所述沟渠(9)之后,以平面化的方式将所述顶侧往回研磨,直到抵达所述覆盖层(16)的所述顶侧,所述支撑结构(24)乃未来支撑在所述存储单元阵列外部的多晶硅的平面化以及其后,于整个区域上,施用用于所述字线的一多晶硅层(18),并将其图案化以形成所述字线。
地址 德国慕尼黑