用于带有扫描通道选择的高级逻辑内建自测试的系统和方法

摘要

公开了一种用于带有扫描通道选择的高级逻辑内建自测试的系统和方法。LBIST控制器通过顺序或者交织加载技术将扫描模式加载进设备的扫描通道，以最小化瞬时功率需求。在交织加载期间，LBIST控制器将扫描比特加载进第一扫描链，然后加载进第二扫描链等，直到一个比特被加载进每一个扫描链。接着该LBIST控制器返回以将另一个扫描比特加载进该第一扫描通道，然后是该第二扫描通道等。在顺序加载期间，LBIST控制器将整个扫描模式加载进第一扫描链(每个时钟周期一个比特)。一旦加载该第一扫描模式，LBIST控制器开始根据每个时钟周期每个扫描通道一个比特，将后续的扫描模式加载进相应的扫描链。

主权项

1.一种计算机实现的方法，包括：从多个扫描通道中仅选择第一扫描通道，其中该多个扫描通道中的每一个对应于包括在设备中的多个扫描链中的一个，该第一扫描通道对应于包括在多个扫描链中的第一扫描链；以及在第一时钟周期上，将来自于第一扫描模式的扫描比特加载进该选择的第一扫描通道。