发明名称 移相横向剪切干涉仪
摘要 一种移相横向剪切干涉仪,由第一起偏器、输入平行平板、第二起偏器、第三起偏器、第一剪切平板、第二剪切平板、输出平行平板、四分之一波片、检偏器、CCD相机和计算机组成,该移相横向剪切干涉仪为等光程干涉光学系统,剪切量连续可调,非常适合于短相干长度光束的波前测量,能满足不同光束口径和测量精度要求的波前检测。
申请公布号 CN101113927A 申请公布日期 2008.01.30
申请号 CN200710045147.2 申请日期 2007.08.22
申请人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明人 王利娟;刘立人;孙建锋;周煜
分类号 G01J9/02(2006.01);G01B9/02(2006.01);G02B7/18(2006.01) 主分类号 G01J9/02(2006.01)
代理机构 上海新天专利代理有限公司 代理人 张泽纯
主权项 1.一种移相横向剪切干涉仪,其特征在于由第一起偏器(1)、输入平行平板(2)、第二起偏器(3)、第三起偏器(4)、第一剪切平板(5)、第二剪切平板(6)、输出平行平板(7)、四分之一波片(8)、检偏器(9)、CCD相机(10)和计算机(11)组成,其位置关系如下:第一起偏器(1)处于输入平行平板(2)的一侧且在其入射光路中,入射光束与所述的输入平行平板(2)成45°,所述的输出平行平板(7)与所述的输入平行平板(2)的材料与厚度相同且平行放置,在所述的输入平行平板(2)和输出平行平板(7)之间,在所述的输入平行平板(2)的第一介质面(21)的反射光路中设置第二起偏器(3)和第一剪切平板(5),在所述的输入平行平板(2)的第二介质面(22)的反射光路中设置第三起偏器(4)和第二剪切平板(6),所述的第一剪切平板(5)和第二剪切平板(6)倾斜方向相反地对称放置,该第一剪切平板(5)和第二剪切平板(6)具有绕公共轴同时进行反向旋转的机构,所述的第二起偏器(3)和第三起偏器(4)的材料与厚度相同,在所述的输出平行平板(7)的出射光路中依次是四分之一波片(8)、检偏器(9)和CCD相机(10),该CCD相机(10)的输出端与所述计算机(11)的输入端相连。
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