| 发明名称 | 快闪记忆区以及快闪记忆群抹除方法 | ||
| 摘要 | 一种快闪记忆群抹除方法，包括下列步骤：(a)对一快闪记忆群的第一子集合施加抹除脉冲。(b)对上述第一子集合执行软性程序化确认或严格软性程序化确认。(c)重复步骤(a)与(b)直到第一预设条件为真。(d)对上述记忆群的第二子集合执行抹除确认。(e)重复步骤(a)至(d)直到第二预设条件为真。最后，(f)使用缓慢程序化以及施加抹除脉冲的方式，修复上述记忆群的第三子集合的位元线漏电流现象。 | ||
| 申请公布号 | CN101114523A | 申请公布日期 | 2008.01.30 |
| 申请号 | CN200610103931.X | 申请日期 | 2006.07.28 |
| 申请人 | 晶豪科技股份有限公司 | 发明人 | 林扬杰 |
| 分类号 | G11C16/14(2006.01) | 主分类号 | G11C16/14(2006.01) |
| 代理机构 | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 寿宁;张华辉 |
| 主权项 | 1.一种快闪记忆区抹除方法，包括施加抹除脉冲、软性程序化确认，以及抹除确认的步骤，其特征在于：使用一缓慢程序化以及施加一抹除脉冲的方式，修复至少一个快闪记忆区的位元线漏电流现象。 | ||
| 地址 | 台湾省新竹市科学园区工业东四路23号 | ||