发明名称 具有间隙结构的高压静电放电保护装置
摘要 一种具有间隙结构的高压静电放电保护装置,运用于横向扩散金氧半场效应晶体管(LDMOS)。本发明利用LDMOS既有的结构,额外加上一间隙结构,用以分隔扩散区与场氧化区。当LDMOS的一寄生的硅控整流器未导通时,使ESD电流分散于其它放电路径,用以避免ESD电流过于集中于某一放电路径,进而造成元件的损坏。
申请公布号 CN100364093C 申请公布日期 2008.01.23
申请号 CN200410031110.0 申请日期 2004.04.06
申请人 世界先进积体电路股份有限公司 发明人 林耿立;周业宁;柯明道
分类号 H01L27/00(2006.01);H01L23/60(2006.01) 主分类号 H01L27/00(2006.01)
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 代理人 王一斌
主权项 1.一种具有间隙结构的高压静电放电保护装置,其特征在于所述静电放电保护装置包括:一第一导电型基底;一第二导电型阱区,形成于该基底中;一第二导电型第一扩散区,形成于该基底中;一栅极,用以控制该第二导电型第一扩散区与该阱区的电性连接,该栅极、该第二导电型第一扩散区与该阱区构成一场效应晶体管,其中该栅极于该第一导电型基底上的投影区域,重叠部分该第二导电型阱区;一第三导电型第一扩散区,形成于该阱区中;一场氧化区,形成于该阱区中,位于该栅极与该第三导电型第一扩散区之间;以及一间隙,形成于该阱区中,位于该场氧化区与该第三导电型第一扩散区之间。
地址 台湾省新竹科学工业园区