| 主权项 |
1.一光学储存装置(optical disc drive)之控制电路,其 包含有:一伺服系统,其具有一循轨伺服控制系统 或一聚焦伺服控制系统,该伺服系统包含有: 一伺服控制单元,用来进行补偿控制,该补偿控制 系为径向倾斜(radial tilt)控制或聚焦平衡(focus balance)的调整; 一回路相位(loop phase)计算单元,耦接至该伺服系统 ,用来依据该伺服系统的至少一误差讯号计算该伺 服系统的闭回路相位;以及 一系统控制单元,耦接至该回路相位计算单元与该 伺服系统,用来依据该闭回路相位产生最佳( optimized)控制参数,以藉由利用该伺服控制单元进 行补偿控制; 其中该最佳(optimized)控制参数系为依据回路相位( loop phase)计算单元计算之复数个闭回路相位所决 定之至少一最佳(optimized)控制参数。 2.如申请专利范围第1项所述之控制电路,其中该系 统控制单元系于复数个控制参数中决定对应一光 碟片上一第一轨道半径之第一最佳控制参数与对 应该光碟片上一第二轨道半径之第二最佳控制参 数,再依据该第一、第二轨道半径与该第一、第二 最佳控制参数进行一内插(interpolation)运算或一外 插(extrapolation)运算以决定对应一预定轨道半径之 最佳控制参数以进行补偿控制。 3.如申请专利范围第1项所述之控制电路,其中该些 闭回路相位具有对应一光碟片上一第一轨道半径 之复数个第一相位与对应该光碟片上一第二轨道 半径之复数个第二相位,该复数个第一相位具有一 第一极値,该第一极値系对应复数个控制参数中一 第一暂定控制参数,且该控制电路另包含有:一射 频讯号(RF signal)品质计算单元,耦接于该系统控制 单元,用来计算对应该第一轨道半径之最佳射频讯 号品质指标(RF quality index),该最佳射频讯号品质指 标系对应该复数个控制参数中一第一预定控制参 数;其中该系统控制单元系依据该第一预定控制参 数与该第一暂定控制参数来计算一控制参数偏移 値,且该系统控制单元系依据该复数个第二相位与 该控制参数偏移値来决定对应该第二轨道半径之 最佳控制参数。 4.如申请专利范围第3项所述之控制电路,其中该复 数个第二相位具有一第二极値,该第二极値系对应 该复数个控制参数中一第二暂定控制参数,该系统 控制单元系依据该第二暂定控制参数与该控制参 数偏移値来决定对应该第二轨道半径之最佳控制 参数。 5.如申请专利范围第4项所述之控制电路,其中该第 二暂定控制参数等于该第一暂定控制参数。 6.如申请专利范围第3项所述之控制电路,其中该系 统控制单元决定该第一预定控制参数系为对应该 第一轨道半径之最佳控制参数。 7.如申请专利范围第3项所述之控制电路,其中该最 佳射频讯号品质指标系对应于部分响应讯号杂讯 比(partial response signal-to-noise ratio, PRSNR)、连续振 幅边缘(Sequenced Amplitude Margin, SAM)、或模拟误码率( simulated bit error rate, SBER)。 8.如申请专利范围第1项所述之控制电路,其中该回 路相位计算单元另包含有:一讯号产生器,用来产 生一周期性的扰动讯号;至少一运算单元,其系为 减法器或加法器,该运算单元系用来将该周期性的 扰动讯号输入该循轨或聚焦伺服控制系统,以将该 周期性的扰动讯号与该误差讯号相减或相加;以及 一相位侦测器,用来侦测该讯号产生器产生的该周 期性的扰动讯号与该误差讯号的相位差,其中该相 位差系为该闭回路相位。 9.如申请专利范围第8项所述之控制电路,其中该相 位侦测器另包含有:一带通滤波器,耦接至该误差 侦测单元,用来过滤该误差讯号以产生一带通滤波 讯号;一数位化(digitizing)单元,耦接至该带通滤波 器,用来依据该带通滤波讯号产生一二元(binary)讯 号;一互斥或(exclusive OR, XOR)单元,耦接至该数位化 单元,用来对该扰动讯号与该二元讯号进行一互斥 或运算以产生一脉冲讯号;以及一平滑(smooth)滤波 器,耦接至该互斥或单元,用来过滤该脉冲讯号以 产生一输出讯号,其中该输出讯号之位准系对应于 该复数个相位中一相位。 10.一光学储存装置(optical storage device)之控制方法, 其包含有:(a)依据一伺服控制系统的至少一误差讯 号计算该伺服系统的闭回路相位;以及(b)依据该闭 回路相位产生最佳(optimized)控制参数以进行补偿 控制;其中该伺服系统包含有一循轨伺服控制系统 或一聚焦伺服控制系统,该补偿控制系为径向倾斜 (radial tilt)控制或聚焦平衡(focus balance)的调整,以 及该最佳(optimized)控制参数系为依据步骤(a)计算 之复数个闭回路相位所决定之至少一最佳(optimized )控制参数。 11.如申请专利范围第10项所述之控制方法,其中步 骤(b)另包含有:于该复数个控制参数中决定对应一 光碟片上一第一轨道半径之第一最佳控制参数与 对应该光碟片上一第二轨道半径之第二最佳控制 参数;以及依据该第一、第二轨道半径与该第一、 第二最佳控制参数进行一内插(interpolation)运算或 一外插(extrapolation)运算以决定对应一预定轨道半 径之最佳控制参数以进行补偿控制。 12.如申请专利范围第10项所述之控制方法,其中该 复数个相位具有对应一光碟片上一第一轨道半径 之复数个第一相位与对应该光碟片上一第二轨道 半径之复数个第二相位,该复数个第一相位具有一 第一极値,该第一极値系对应该复数个控制参数中 一第一暂定控制参数,且该控制方法另包含有:计 算对应该第一轨道半径之最佳射频讯号品质指标( RF quality index),该最佳射频讯号品质指标系对应该 复数个控制参数中一第一预定控制参数;其中步骤 (b)另依据该第一预定控制参数与该第一暂定控制 参数来计算一控制参数偏移値,且依据该复数个第 二相位与该控制参数偏移値来决定对应该第二轨 道半径之最佳控制参数。 13.如申请专利范围第12项所述之控制方法,其中该 复数个第二相位具有一第二极値,该第二极値系对 应该复数个控制参数中一第二暂定控制参数,步骤 (b)系依据该第二暂定控制参数与该控制参数偏移 値来决定对应该第二轨道半径之最佳控制参数。 14.如申请专利范围第13项所述之控制方法,其中该 第二暂定控制参数等于该第一暂定控制参数。 15.如申请专利范围第12项所述之控制方法,其中步 骤(b)另包含有:决定该第一预定控制参数系为对应 该第一轨道半径之最佳控制参数。 16.如申请专利范围第10项所述之控制方法,其中该 最佳射频讯号品质指标系对应于部分响应讯号杂 讯比(partial response signal-to-noise ratio, PRSNR)、连续 振幅边缘(Sequenced Amplitude Margin, SAM)、或模拟误码 率(simulated bit error rate, SBER)。 17.如申请专利范围第10项所述之控制方法,其中步 骤(a)另包含有:产生一周期性的扰动讯号;将该周 期性的扰动讯号输入该循轨或聚焦伺服控制系统; 以及侦测该周期性的扰动讯号与该误差讯号的相 位差,其中该相位差系为该闭回路相位。 18.如申请专利范围第10项所述之控制方法,其中步 骤(a)另包含有:(a-0)过滤该误差讯号以产生一带通 滤波讯号;(a-1)依据该带通滤波讯号产生一二元( binary)讯号;(a-2)对该扰动讯号与该二元讯号进行一 互斥或运算以产生一脉冲讯号;以及(a-3)过滤该脉 冲讯号以产生一输出讯号,其中该输出讯号之位准 系对应于该复数个相位中一相位。 图式简单说明: 第1图为习知之光学储存装置中一控制电路的示意 图。 第2图为第1图所示之控制电路之循轨控制回路的 示意图。 第3图为依据本发明之一光学储存装置的光学读取 头之控制电路的示意图。 第4图为依据本发明一第一实施例、于第3图所示 之控制电路中用来量测闭回路相位之元件的示意 图。 第5图为依据该第一实施例、于第3图所示之控制 电路中用来量测闭回路相位之元件的示意图。 第6图为第3图所示之回路相位计算单元的示意图 。 第7图为对应该第一实施例之闭回路相位与频率之 曲线的示意图。 第8图为该第一实施例之一可能状况下,闭回路转 移函数相位量测位准及射频讯号品质指标分别对 应于控制参数之两曲线的示意图。 第9图依据本发明之一光学储存装置之控制方法的 流程图。 第10图依据本发明之一光学储存装置之控制方法 的流程图。 第11图为依据本发明一第二实施例、于第3图所示 之控制电路中用来量测闭回路相位之元件的示意 图。 第12图为对应该第二实施例之闭回路相位与频率 之曲线的示意图。 第13图为该第二实施例之一可能状况下,闭回路敏 感度函数相位量测位准及射频讯号品质指标分别 对应于控制参数之两曲线的示意图。 |
