发明名称 |
普通单色光测距的系统和方法及其应用 |
摘要 |
提供一种普通单色光测距的系统和方法,该系统包括用于发射光信号的发光器件、涂有具有回归反光特性高反射率材料的被测物体、用于接收反射光信号的光电器件、以及一个通过光的传播时间测量光路长度的电路系统。其中,所述发光器件将电路系统提供的电信号转换成光信号,并将光信号发射向被测物体;所述被测物体上涂有的具有回归反光的特性的高反射率材料使光信号主要沿原路返回;所述光电器件将接收反射的光信号转变成电信号;所述电路系统通过测量光信号从发光器件发出到光电器件接受到的时间差,计算出光路的距离。其大大地提高了测距的准确度。通过普通单色光测距,可以降低系统的实现成本,还可以极大地改进其性能。 |
申请公布号 |
CN101101334A |
申请公布日期 |
2008.01.09 |
申请号 |
CN200610090996.5 |
申请日期 |
2006.07.06 |
申请人 |
李代甫 |
发明人 |
李代甫 |
分类号 |
G01S17/08(2006.01) |
主分类号 |
G01S17/08(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
1.一种通过普通单色光测距的系统,该系统包括用于发射光信号的发光器件、涂有具有回归反光特性高反射率材料的被测物体、用于接收反射光信号的光电器件、以及一个通过光的传播时间测量光路长度的电路系统,其中,所述发光器件将电路系统提供的电信号转换成光信号,并将光信号发射向被测物体;所述被测物体上涂有的具有回归反光的特性的高反射率材料使光信号主要沿原路返回;所述光电器件将接收反射的光信号转变成电信号;所述电路系统通过测量光信号从发光器件发出到光电器件接受到的时间差,计算出光路的距离。 |
地址 |
100096北京市海淀区西三旗建材城西路31号B座 |