| 摘要 |
Die Erfindung betrifft eine Testvorrichtung (1) zum Testen eines in einen Testbereich eines Fertigungsgerätes verfahrbaren Transponders (2), umfassend: - eine erste Sendeeinrichtung (4) zum Abstrahlen eines Funksignals, um den zu testenden Transponder (2) in dem Testbereich zu betreiben; - eine zweite Sendeeinrichtung (5) zum Bereitstellen eines magnetischen Wechselfeldes, um den Transponder (2) durch induktive magnetische Kopplung zu betreiben; wobei die erste und die zweite Sendeeinrichtung (4, 5) bezüglich des Testbereiches (TB) einander gegenüberliegend angeordnet sind; - eine erste Abschirmeinrichtung (8), die das Funksignal in einem von dem Testbereich (TB) verschiedenen Abschirmbereich (AB) zumindest so abschwächt, dass ein dort befindlicher Transponder (2) nicht betreibbar ist; und - eine zweite Abschirmeinrichtung (10), die das magnetische Wechselfeld in dem Abschirmbereich (AB) so abschwächt, dass ein dort befindlicher Transponder (2) nicht betreibbar ist. |
