发明名称 指纹特征比对方法
摘要 本发明提供一种指纹特征比对方法,其系将一指纹影像标定一区块,将该区块周边利用指纹影像上之纹理颜色深浅转换为一由数字排列组成之字串,将待测指纹之字串与标准指纹之字串相互比对并产生一相似度,其中比对方式系找出彼此相同的至少一数字区段,将待测指纹之数字区段位置与标准指纹之数字区段位置比较而计算出一旋转位移值,依据旋转位移值将待测指纹之字串重新移动排列并重新与标准指纹之字串比对,产生一相似度。本发明因有别于知之辨识方式,使演算过程简化及计算量大量缩减。
申请公布号 TWI291662 申请公布日期 2007.12.21
申请号 TW094104285 申请日期 2005.02.15
申请人 业程科技股份有限公司 发明人 许世贤
分类号 G06K9/48(2006.01) 主分类号 G06K9/48(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文 台北市大安区信义路4段279号3楼;颜锦顺 台北市大安区信义路4段279号3楼
主权项 1.一种指纹特征比对方法,包括下列步骤: 提供该一标准指纹影像,在该标准指纹影像上标定 一第一区块,将该第一区块周边利用该标准指纹影 像上之纹理颜色深浅转换为一第一字串,其中该第 一字串系由数字排列组成; 提供一待测指纹影像,在该待测指纹影像上标定一 第二区块,将该第二区块周边利用该待测指纹影像 上之纹理颜色深浅转换为一第二字串,其中该第二 字串系由数字排列组成;以及 将该第二字串与该第一字串相互比对并产生一相 似度,其中比对方式系找出相同的至少一数字区段 ,将该第二字串之该数字区段位置与该第一字串之 该数字区段位置比较而计算出一旋转位移値,依据 该旋转位移値将该第二字串之数字重新移动排列 并产生一第三字串,将该第一字串与该第三字串比 对产生该相似度。 2.如申请专利范围第1项所述之指纹特征比对方法, 其中,该相似度大于一数値时,该待测指纹影像与 该标准指纹影像系为相同,该相似度小于该数値时 ,该待测指纹影像与该标准指纹影像系为不同。 3.如申请专利范围第2项所述之指纹特征比对方法, 其中,该数値系为70%~95%,且可依使用者安全性需求 而调整改变。 4.如申请专利范围第1项所述之指纹特征比对方法, 其中,该第二区块与该第一区块之形状系为相同, 并且系为几何形状。 5.如申请专利范围第4项所述之指纹特征比对方法, 其中,该第二区块与该第一区块之形状系为圆形。 6.如申请专利范围第1项所述之指纹特征比对方法, 其中,比对时若没有相同之该数字区段,则重新在 该待测指纹影像上标定一第三区块,并与该第一字 串重覆比对。 7.如申请专利范围第6项所述之指纹特征比对方法, 其中,该第三区块形状系与该第一区块相同。 8.如申请专利范围第1项所述之指纹特征比对方法, 其中,该数字区段系为该第一字串的70%至90%之间。 图式简单说明: 第一图为先前技术之特征点比对方法示意图。 第二A图为本发明在标准指纹影像上截取第一区块 之示意图。 第二B图为本发明将第一区块周边转换成第一字串 之示意图。 第三A图为本发明在待测指纹影像上截取第二区块 之示意图。 第三B图为本发明将第二区块周边转换成第二字串 之示意图。 第四图为本发明比对第一字串及第二字串之示意 图。 第五图为本发明重新排列第二字串之示意图。
地址 台北县中和市建八路2号16楼之5