发明名称 |
检测系统及其检测电路、半导体装置、显示装置以及检测半导体装置的方法 |
摘要 |
本发明提供了一种电路面积减小和能够控制成本小幅增加的检测系统。检测电路插入在第一电路和第二电路之间。此外,检测电路包括信令控制部分和检测输出部分。信令控制部分控制第一电路和第二电路之间的信令。此外,检测输出部分经过检测电路输出第一电路的检测输出。本发明中,信令控制部分和检测输出部分共享部分电路从而实现它们自身的功能。此外,第一电路、第二电路和检测电路位于同一衬底上。检测电路用于在信令控制部分和检测输出部分之间切换。 |
申请公布号 |
CN101089929A |
申请公布日期 |
2007.12.19 |
申请号 |
CN200710110173.9 |
申请日期 |
2007.06.14 |
申请人 |
日本电气株式会社;NEC液晶技术株式会社 |
发明人 |
高取宪一 |
分类号 |
G09G3/20(2006.01);G09G3/36(2006.01) |
主分类号 |
G09G3/20(2006.01) |
代理机构 |
中原信达知识产权代理有限责任公司 |
代理人 |
关兆辉;陆锦华 |
主权项 |
1.一种插入在第一电路和第二电路之间的检测电路,其中该检测电路包括:在第一电路和第二电路之间控制信令的信令控制部分,和检测第一电路和第二电路至少之一的检测输出部分、以及在该信令控制部分和该检测输出部分之间使用的各开关,和每部分都共享部分电路从而彼此实现每个部分。 |
地址 |
日本东京 |