| 发明名称 | 半导体器件 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种半导体器件，包括能够自我修复芯片内的故障单元的系统，抑制电路面积的增加，缩短用于救济冗余存储器的故障的救济信息传送时间以及电熔丝的切断时间。冗余存储器(11、12)能够独立动作。测试电路(30)进行冗余存储器(11、12)的检查，当判断为存在故障单元时，输出用于救济该故障单元的救济信息(S3)。救济处理部(21)具有为冗余存储器(11、12)所共有的、且分别具有能够存储救济信息(S3)的救济信息存储部(L11～L1x)的多个故障救济部(211～21x)，进行冗余存储器(11、12)的救济处理。 | ||
| 申请公布号 | CN101083142A | 申请公布日期 | 2007.12.05 |
| 申请号 | CN200710105461.5 | 申请日期 | 2007.05.31 |
| 申请人 | 松下电器产业株式会社 | 发明人 | 黑住知弘;县泰宏;市川修;永井慎太郎 |
| 分类号 | G11C29/44(2006.01);G11C29/00(2006.01) | 主分类号 | G11C29/44(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市金杜律师事务所 | 代理人 | 季向冈 |
| 主权项 | 1.一种半导体器件，其特征在于，具有：多个冗余存储器，该冗余存储器具有多个存储单元，当在上述存储单元中存在故障单元时能进行救济并能独立进行工作；以及救济处理部，该救济处理部在上述多个冗余存储器中的至少一个具有故障单元时存储用于救济上述冗余存储器的救济信息，并进行上述冗余存储器的救济处理，其中，上述救济信息被串行存储于上述救济处理部中且为上述多个冗余存储器所共有。 | ||
| 地址 | 日本大阪府 | ||