发明名称 HALIDE ANIONS FOR METAL REMOVAL RATE CONTROL
摘要 The inventive chemical-mechanical polishing system comprises a polishing component, a liquid carrier, an oxidizing agent, and a halogen anion. The inventive method comprises chemically-mechanically polishing a substrate with the polishing system.
申请公布号 WO2007111855(A3) 申请公布日期 2007.11.15
申请号 WO2007US06709 申请日期 2007.03.16
申请人 CABOT MICROELECTRONICS CORPORATION 发明人 LI, SHOUTIAN
分类号 C09G1/02;C09K3/14 主分类号 C09G1/02
代理机构 代理人
主权项
地址