发明名称 |
金属氧化物半导体场效应晶体管及其制造方法 |
摘要 |
一种金属氧化物半导体场效应晶体管的制造方法。首先提供一基底,基底上已形成有栅极结构,之后,移除部分基底,以于栅极结构两侧的基底中形成第一凹陷。接着,于第一凹陷中沉积源极与漏极延伸层,并于栅极结构两侧形成间隙壁。然后,移除部分源极与漏极延伸层及部分基底,以于间隙壁以外的源极与漏极延伸层及部分基底中形成第二凹陷。然后,于第二凹陷中沉积源极与漏极层。因为源极与漏极延伸层及源极与漏极层具有特定的材料与结构,所以能够改善短沟道效应,并使此金属氧化物半导体场效应晶体管具有优异的效能。 |
申请公布号 |
CN101071774A |
申请公布日期 |
2007.11.14 |
申请号 |
CN200610081826.0 |
申请日期 |
2006.05.12 |
申请人 |
联华电子股份有限公司 |
发明人 |
蔡振华;蓝邦强;林育信;刘毅成;蔡成宗 |
分类号 |
H01L21/336(2006.01);H01L29/78(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/336(2006.01) |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
陶凤波;侯宇 |
主权项 |
1.一种金属氧化物半导体场效应晶体管的制造方法,包括:提供基底,该基底上已形成栅极结构;移除该栅极结构两侧的部分该基底,以形成第一凹陷;于该第一凹陷中沉积源极与漏极延伸层;于该栅极结构两侧形成间隙壁;移除该间隙壁以外的该源极与漏极延伸层及部分该基底,以形成第二凹陷;以及于该第二凹陷中沉积源极与漏极层。 |
地址 |
中国台湾新竹科学工业园区 |