发明名称 金属氧化物半导体场效应晶体管及其制造方法
摘要 一种金属氧化物半导体场效应晶体管的制造方法。首先提供一基底,基底上已形成有栅极结构,之后,移除部分基底,以于栅极结构两侧的基底中形成第一凹陷。接着,于第一凹陷中沉积源极与漏极延伸层,并于栅极结构两侧形成间隙壁。然后,移除部分源极与漏极延伸层及部分基底,以于间隙壁以外的源极与漏极延伸层及部分基底中形成第二凹陷。然后,于第二凹陷中沉积源极与漏极层。因为源极与漏极延伸层及源极与漏极层具有特定的材料与结构,所以能够改善短沟道效应,并使此金属氧化物半导体场效应晶体管具有优异的效能。
申请公布号 CN101071774A 申请公布日期 2007.11.14
申请号 CN200610081826.0 申请日期 2006.05.12
申请人 联华电子股份有限公司 发明人 蔡振华;蓝邦强;林育信;刘毅成;蔡成宗
分类号 H01L21/336(2006.01);H01L29/78(2006.01) 主分类号 H01L21/336(2006.01)
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 陶凤波;侯宇
主权项 1.一种金属氧化物半导体场效应晶体管的制造方法,包括:提供基底,该基底上已形成栅极结构;移除该栅极结构两侧的部分该基底,以形成第一凹陷;于该第一凹陷中沉积源极与漏极延伸层;于该栅极结构两侧形成间隙壁;移除该间隙壁以外的该源极与漏极延伸层及部分该基底,以形成第二凹陷;以及于该第二凹陷中沉积源极与漏极层。
地址 中国台湾新竹科学工业园区