发明名称 |
磁记录介质和磁记录设备 |
摘要 |
本发明涉及磁记录介质和磁记录设备。在衬底上形成一个大粒径底层,其包括选自Cu、Ni或者Rh中的至少一种,具有大于或等于50nm的较大的平均直径的晶粒,(100)晶面的取向平行于衬底表面。然后,在该底层上淀积磁记录层。带有这种结构的磁记录介质在磁性层中表现出了非常小的磁性晶粒,在高纪录密度下具有优良的重写性能和信噪比。 |
申请公布号 |
CN100347756C |
申请公布日期 |
2007.11.07 |
申请号 |
CN200510059290.8 |
申请日期 |
2005.03.25 |
申请人 |
株式会社东芝 |
发明人 |
前田知幸;喜喜津哲;及川壮一;岩崎刚之 |
分类号 |
G11B5/66(2006.01);G11B5/738(2006.01) |
主分类号 |
G11B5/66(2006.01) |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人 |
李春晖 |
主权项 |
1.一种磁记录介质,包括:衬底;形成在衬底上的大粒径底层;在该底层上的磁记录层;以及形成在该磁记录层上的保护层;其中,所述大粒径底层包括选自由Cu、Ni、Rh和Pt构成的组中的至少一种的晶粒,平均粒径dc为dc>=50nm,晶粒的(100)晶面取向平行于衬底表面。 |
地址 |
日本东京都 |