发明名称 变温显微磁光光谱系统
摘要 一种变温显微磁光光谱系统,包括:一激光器;一致冷机控制样品的温度;一中心带有室温孔洞的超导磁体杜瓦提供用于磁光光谱的磁场;一激光入射光路把激光器的输出激光引入并聚焦到致冷头内的样品表面来激发样品的荧光光谱;一样品监视光路监视激光通过第一分束器和显微物镜聚焦到样品上的具体位置和聚焦情况;一信号收集光路通过多模光纤把荧光信号传输到光谱仪进行光谱测量;一光纤监视光路观察荧光信号和激光反射信号的具体位置,确保样品荧光信号有效地被多模光纤收集;一光谱仪和相应的探测器,位于多模光纤的一端,用来色散和测量样品的荧光信号。
申请公布号 CN101059437A 申请公布日期 2007.10.24
申请号 CN200610011749.1 申请日期 2006.04.19
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 谭平恒;郑厚植;李桂荣;章昊;姬杨;甘华东;朱汇
分类号 G01N21/64(2006.01);G01N27/00(2006.01) 主分类号 G01N21/64(2006.01)
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 汤保平
主权项 1.一种变温显微磁光光谱系统,其特征在于,该光谱系统包括:一激光器,其出射激光用于激发样品的荧光光谱;一致冷机,控制样品的温度,样品放置于其致冷头中;一中心带有室温孔洞的超导磁体杜瓦,提供用于磁光光谱的磁场,致冷机放置样品的致冷头能深入超导磁体杜瓦的室温孔洞中;一激光入射光路,把激光器的输出激光引入并聚焦到致冷头内的样品表面来激发样品的荧光光谱;一样品监视光路,使第一照明光源发出的白光通过光路中的第一监视器显微观察样品的表面图像,同时监视激光通过第一分束器和显微物镜聚焦到样品上的具体位置和聚焦情况;一信号收集光路,把样品的荧光信号通过显微物镜、第一分束器传输并会聚进多模光纤,通过多模光纤把荧光信号传输到光谱仪进行光谱测量;一光纤监视光路,通过光路中的第二监视器观察荧光信号和激光反射信号在多模光纤靠近第五分束器一侧端面的具体位置,确保样品荧光信号有效地被多模光纤收集;一光谱仪和相应的探测器,位于多模光纤的一端,用来色散和测量样品的荧光信号。
地址 100083北京市海淀区清华东路甲35号