发明名称 | 确定缺陷的方法及记录/再现设备和信息存储介质 | ||
摘要 | 提供一种确定在信息存储介质上是否存在缺陷的方法,以及使用该方法的记录/再现设备。该方法包括:从管理信息存储介质并包括缺陷块的状态信息和替换块的状态信息的缺陷列表搜索其状态信息指示缺陷块或替换块已未经检查而被重新初始化的缺陷条目,其中,所述介质包括用于记录替换在介质上的用户数据区中出现的缺陷块的替换块的备用区;和检查在搜索到的缺陷条目中注册的缺陷块或替换块。结果,可有效地重新安排通过执行未经检查盘的快速重新初始化产生的缺陷信息,从而提高驱动器系统的性能。 | ||
申请公布号 | CN101061537A | 申请公布日期 | 2007.10.24 |
申请号 | CN200580039780.X | 申请日期 | 2005.11.17 |
申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 黄盛凞;高祯完;成孝振 |
分类号 | G11B7/007(2006.01) | 主分类号 | G11B7/007(2006.01) |
代理机构 | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人 | 韩明星;李云霞 |
主权项 | 1、一种确定在具有包括用于记录数据的用户数据区和用于记录替换在用户数据区中出现的缺陷块的替换块的备用区的数据区的信息存储介质上是否存在缺陷的方法,所述方法包括:从管理介质并包括缺陷块的状态信息和替换块的状态信息的缺陷列表搜索其状态信息指示缺陷块或替换块已未经检查而被重新初始化的缺陷条目;和检查在所述缺陷条目中注册的缺陷块或替换块。 | ||
地址 | 韩国京畿道 |