发明名称 带有信号和电力触点阵列的用于测试封装集成电路的测试触点系统
摘要 用于与微电路端子短暂电接触的测试触点元件,包括至少一作为悬臂梁从绝缘接触薄膜伸出的弹性爪指。该爪指在其触点侧具有导电触点焊盘,用于接触微电路端子。优选地,该测试触点元件具有多个爪指,每个爪指至少部分是由薄膜中的两个径向槽限定的,这两个槽将每个爪指与形成测试触点元件的多个爪指中的其他每个爪指机械地间隔开。多个测试触点元件可以形成测试触点元件阵列,该阵列包括按预定图案布置的测试触点元件。多个优选位于界面薄膜中的连接旁路孔基本上按测试触点元件的预定图案布置,且每个所述连接旁路孔与一测试触点元件对准。该连接旁路孔可以是具有一开口端的杯形,且该杯形旁路孔的开口端与对准的测试触点元件接触。触点和界面薄膜可以用作包括承载板的测试容器的一部分,且在该承载板上安装有用于测试的独立微电路。
申请公布号 CN101059550A 申请公布日期 2007.10.24
申请号 CN200710087990.7 申请日期 2007.01.17
申请人 约翰国际有限公司 发明人 杰弗里·C·谢里
分类号 G01R31/28(2006.01);G01R1/02(2006.01);B81C5/00(2006.01) 主分类号 G01R31/28(2006.01)
代理机构 上海恩田旭诚知识产权代理有限公司 代理人 丁宪杰
主权项 1、一种用于与微电路端子短暂电接触的测试触点元件,包括作为悬臂梁从绝缘薄膜伸出的弹性爪指,且在所述测试触点元件的一触点侧上具有用于与所述微电路端子接触的导电触点焊盘。
地址 美国明尼苏达州