电子装置

摘要

一种具有多个子装置(120a，120b)的电子装置(100)，其中各子装置(120a；120b)与测试接口(140a；140b)相连。测试接口(140a；140b)排列成一个测试接口(140)链，方法是通过使链(140)中前驱测试接口(140a)的TDO接触点(142a)与后继测试接口(140b)的TDI接触点(141b)相连。此外，在链(140)的开始处，为链(140)扩充边界扫描兼容的测试接口(160)，用于测试电子装置(100)的其它部分。链(140)中最末测试接口(140b)的TDO接触点(142b)以及测试接口(160)的TDO接触点(162)均与旁路多路复用器(102)相连，这样形成从测试数据输入(110)到测试数据输出(112)的两条可能的路径：贯穿全链(140、160)或只贯穿测试接口(160)。因此，电子装置(100)可以作为宏装置或子装置(120a，120b)的集合来加以测试或调试。

主权项

1.一种电子装置(100)，它包括：多个子装置(120a，120b)；具有第一输入(103)、第二输入(104)和输出(106)的旁路多路复用器(102)；测试数据输入(110)；与所述旁路多路复用器(102)的所述输出(106)相连的测试数据输出(112)；多个测试接口(140a，140b，160)，包括：一组测试接口(140a，140b)，所述测试接口(140a，140b)组中的各测试接口(140a；140b)与所述多个子装置(120a，120b)中的一个子装置(120a；120b)相连，所述测试接口(140a，140b)组形成测试接口(140)链，因为：所述测试接口(140)链中的前驱测试接口(140a)的测试数据输出接触点(142a)与所述测试接口(140)链中的后继测试接口(140b)的测试数据输入接触点(141b)相连；以及与边界扫描兼容的附加测试接口(160)，用于控制所述旁路多路复用器(102)，所述附加测试接口(160)具有：与所述测试数据输入(110)相连的附加测试数据输入接触点(161)；以及与所述旁路多路复用器(102)的所述第一输入(103)相连的附加测试数据输出接触点(162)；所述电子装置的特征在于：所述测试接口(140)链中最末的测试接口(140b)的测试数据输出接触点(142b)与所述旁路多路复用器(102)的所述第二输入(104)相连；以及所述附加测试数据输出接触点(162)还与所述测试接口(140)链中第一测试接口(140a)的测试数据输入接触点(141a)相连。