发明名称 | 玻璃质量检测仪 | ||
摘要 | 一种玻璃质量检测仪,其特征在于它由照明系统、置放待测玻璃工件的工作台、探测器、信息处理器四大部分构成:所述的照明系统是由光源、光束处理器和工件检测前预处理器组成的,所述的光束处理器是指与所述的光源相匹配的光学系统,所述的工件检测前预处理器由带有喷嘴的压缩气体清洁器和用于待测玻璃工件的边缘增强透光性的增透刷构成,上述各部件的位置关系是:所述的光源发出的光经光束处理器后照射在位于所述的工件平台的待测玻璃工件上,所述的探测器采集该待测玻璃工件的图像信息,送所述的信息处理器处理该信息、存储并显示图像。 | ||
申请公布号 | CN200959000Y | 申请公布日期 | 2007.10.10 |
申请号 | CN200620045033.9 | 申请日期 | 2006.08.22 |
申请人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明人 | 欧阳斌;林礼煌;张秉钧 |
分类号 | G01N21/958(2006.01) | 主分类号 | G01N21/958(2006.01) |
代理机构 | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人 | 张泽纯 |
主权项 | 1、一种玻璃质量检测仪,其特征在于它由照明系统(1)、置放待测玻璃工件的工作台(2)、探测器(3)、信息处理器(4)四大部分构成:所述的照明系统(1)是由光源(11)、光束处理器(12)和工件检测前预处理器(13)组成的,所述的光束处理器(12)是指与所述的光源(11)相匹配的光学系统,所述的工件检测前预处理器(13)由带有喷嘴的压缩气体清洁器(131)和用于待测玻璃工件的边缘增强透光性的增透刷(132)构或,上述各部件的位置关系是:所述的光源(11)发出的光经光束处理器(12)后照射在位于所述的工件平台(2)的待测玻璃工件上,所述的探测器(3)采集该待测玻璃工件的图像信息,送所述的信息处理器(4)处理该信息、存储并显示图像。 | ||
地址 | 201800上海市800-211邮政信箱 |