| 发明名称 | 显影剂劣化检测方法以及使用该方法的图像形成装置 | ||
| 摘要 | 发光部(8a)向立起有磁刷的显影筒(41a)的表面部位发射光线，用受光部(8b)接收其反射光。然后通过测量光反射比率，检测显影剂的劣化状况。当检测到显影剂已劣化时，于不进行图像生成期间将调色剂(t)由显影筒(41a)移向感光鼓(1)，从而将已劣化的调色剂(t)从显影装置(4)排出。 | ||
| 申请公布号 | CN101042556A | 申请公布日期 | 2007.09.26 |
| 申请号 | CN200710087279.1 | 申请日期 | 2007.03.21 |
| 申请人 | 京瓷美达株式会社 | 发明人 | 松井谦之 |
| 分类号 | G03G15/08(2006.01);G03G15/00(2006.01) | 主分类号 | G03G15/08(2006.01) |
| 代理机构 | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人 | 陈红 |
| 主权项 | 1、一种显影剂劣化的检测方法，用于一种显影方式，该显影方式在内置有磁极部件的显影剂载体上形成包括磁性载体和调色剂的双组份显影剂磁刷，该磁刷的顶端与图像载体的表面相接触，以使调色剂移向图像载体，将形成于图像载体表面的静电潜像转化为可视图像，其特征在于，该检测方法包括：向显影剂载体的立有磁刷的表面部位发射光线的步骤；测量反射光比例以检测显影剂劣化状况的步骤；以及检测到显影剂劣化状况时进行通报的步骤。 | ||
| 地址 | 日本大阪 | ||