发明名称 记忆体检查装置
摘要 本发明系提供一种记忆体检查装置,其无须使用软体处理,即可在资料宽度不同的检查模式中,进行检查结果的位址之重叠处理。本发明解决上述问题之记忆体检查装置,系因应于资料宽度不同之检查模式,检查位址与资料之读取构造相异之DUT,其特征在于:设置有资料存放控制装置,用以因应于赋予DUT的位址与检查模式指定讯号,可将失效资料任意配置于失效记忆体之存放位置而加以控制;且该资料存放控制装置更包含:位址排列项序改变装置,用以因应DUT之检查模式,改变位址之排列顺序;以及位址选择装置,由改变排列顺序之位址,依DUT的检查模式别,在DUT之每个区域决定失效资料之存放分配。
申请公布号 TW200735116 申请公布日期 2007.09.16
申请号 TW095141887 申请日期 2006.11.13
申请人 横河电机股份有限公司 发明人 木村隆寻
分类号 G11C29/06(2006.01) 主分类号 G11C29/06(2006.01)
代理机构 代理人 周良谋;周良吉
主权项
地址 日本