发明名称 |
多接入终端信道抑制的测试方法 |
摘要 |
一种多接入终端信道抑制的测试方法,包括以下步骤:(1)建立MAT的多个无线链路正常工作环境,并设置该多个无线链路同时处于环回模式;(2)设置MAT的发射功率为最大;(3)分别设置RNUT和RUT的工作频率,使RNUT和RUT分别处于正常工作模式;(4)对RUT在信号源上产生干扰信号,并将该干扰信号与系统模拟器上的正常工作信号一起加到MAT上;(5)测试RUT的比特误码率BER值;(6)如果上述测试结果大于设定值,则降低MAT的发射功率,进入步骤(3)重新进行测试;否则输出测试结果并结束测试。采用本发明的测试方法使测试结果更加符合实际情况、更加准确。 |
申请公布号 |
CN101035387A |
申请公布日期 |
2007.09.12 |
申请号 |
CN200710100445.7 |
申请日期 |
2007.04.06 |
申请人 |
中兴通讯股份有限公司 |
发明人 |
禹忠;彭宏利;王曼 |
分类号 |
H04Q7/38(2006.01);H04Q7/34(2006.01);H04Q7/32(2006.01);H04B7/005(2006.01);H04B1/707(2006.01) |
主分类号 |
H04Q7/38(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
1、一种多接入终端信道抑制的测试方法,所述多接入终端包括RNUT即非待测无线电和RUT即待测无线电,其特征在于,所述测试方法包括以下步骤:(1)、建立MAT的多个无线链路正常工作的环境,并设置所述MAT的多个无线链路同时处于环回模式;(2)、设置MAT的发射功率为最大;(3)分别设置RNUT和RUT的工作频率,使RNUT和RUT分别处于正常的工作模式;(4)、对RUT在信号源上产生干扰信号,并将所述干扰信号与系统模拟器上的正常工作信号一起加到MAT上;(5)在测试仪上检验连续帧的最小样本数序列,并测试RUT的比特误码率BER值;(6)如果步骤(5)中的测试结果大于设定值,则降低MAT的发射功率,进入步骤(3)重新进行后续步骤的测试;否则输出测试结果并结束测试。 |
地址 |
518057广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦A座 |