发明名称 等离子体成膜方法和等离子体成膜装置
摘要 本发明提供一种等离子体成膜方法和等离子体成膜装置,相对于在气密处理容器(1)内被载置的基板(W),通过在径向线隙缝天线(4)中导入微波而使之发生等离子体。设定条件如下:处理容器内的压力是7.32Pa以上8.65Pa以下,微波电力是2000W以上2300W以下,基板表面与原料气体供给部件(3)的相对面之间的距离(L1)是70mm以上105mm以下,基板表面与放电气体供给部件(2)的相对面之间的距离(L2)是100mm以上140mm以下。在该条件下,基于微波能将由环状C<SUB>5</SUB>F<SUB>8</SUB>气体构成的原料气体活化。由此可以得到含有大量的C<SUB>4</SUB>F<SUB>6</SUB>离子和/或自由基的成膜种。由此,形成漏电特性和热稳定性优异的加氟碳膜。
申请公布号 CN101036219A 申请公布日期 2007.09.12
申请号 CN200580034009.3 申请日期 2005.10.04
申请人 东京毅力科创株式会社 发明人 小林保男;太田与洋;康松润;泽田郁夫
分类号 H01L21/314(2006.01);C23C16/26(2006.01) 主分类号 H01L21/314(2006.01)
代理机构 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人 龙淳
主权项 1.一种等离子体成膜方法,其特征在于,基于微波的能量,将由碳和氟构成、并具有单独1个三键、1个以上双键、或共轭双键的化合物的原料气体活化,利用由此得到的含有C4F6或C4F5的成膜种,形成加氟碳膜,其中,对该原料气体进行活化,使得活化后的原料气体浓度为活化前的原料气体浓度的0.05倍以上0.5倍以下。
地址 日本东京都
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