发明名称 用于空间物体三维检测与定位的光电式自准直显微测量仪
摘要 用于空间物体三维检测与定位的光电式自准直显微测量仪,它涉及的是光学检测空间物体位置的技术领域。它是为了解决对现有检测空间物体进行三维精密定位设备,存在光学系统结构复杂、传感器数量多、检测精度低、检测速度慢的问题。它的第一分光棱镜(2)、第二分光棱镜(3)、辅助物镜(5)、精测CCD(6)都依次排列在主物镜(1)右侧光轴轴线上,第三分光棱镜(7)、准直CCD(8)都依次排列在第一分光棱镜(2)反射光的光轴轴线上,分划板(9)、聚光镜(10)、光源(11)都排列在第三分光棱镜(7)反射光的光轴轴线上,大范围监测CCD(4)的光敏面面向第二分光棱镜(3)的反射光轴。本发明能对空间物体的三维坐标进行测量,它具有测量速度快、测量精度高的优点,定位精度优于10微米。
申请公布号 CN101033940A 申请公布日期 2007.09.12
申请号 CN200710071972.X 申请日期 2007.03.30
申请人 哈尔滨工业大学 发明人 刘国栋;浦昭邦;刘炳国;庄志涛
分类号 G01B11/00(2006.01);G01S17/06(2006.01) 主分类号 G01B11/00(2006.01)
代理机构 哈尔滨市松花江专利商标事务所 代理人 朱永林
主权项 1、用于空间物体三维检测与定位的光电式自准直显微测量仪,其特征在于它由主物镜(1)、第一分光棱镜(2)、第二分光棱镜(3)、大范围监测CCD(4)、辅助物镜(5)、精测CCD 6、第三分光棱镜(7)、准直CCD(8)、分划板(9)、聚光镜(10)、光源(11)、图像采集卡(12)、计算机(13)组成;第一分光棱镜(2)、第二分光棱镜(3)、辅助物镜(5)、精测CCD(6)都依次排列在主物镜(1)的右侧光轴轴线上,第一分光棱镜(2)透射光的光轴轴线、第二分光棱镜(3)透射光的光轴轴线、辅助物镜(5)的光轴轴线、精测CCD(6)光敏面的中心线与主物镜(1)的光轴轴线互相重合,精测CCD(6)的光敏面面向辅助物镜(5),大范围监测CCD(4)的光敏面面向第二分光棱镜(3)的反射光轴,大范围监测CCD(4)的光敏面中心线与第二分光棱镜(3)反射光的光轴轴线相互重合,第三分光棱镜(7)、准直CCD(8)都依次排列在第一分光棱镜(2)反射光的光轴轴线上,第三分光棱镜(7)透射光的光轴轴线、准直CCD(8)光敏面的中心线与第一分光棱镜(2)反射光的光轴轴线相互重合,准直CCD(8)的光敏面面向第三分光棱镜(7)透射光光轴,分划板(9)、聚光镜(10)、光源(11)都依次排列在第三分光棱镜(7)入射光的光轴轴线上,分划板(9)的光轴轴线、聚光镜(10)的光轴轴线、光源(11)的中心与第三分光棱镜(7)的入射光的光轴轴线相互重合,光源(11)的光输出端面向聚光镜(10),大范围监测CCD(4)的视频信号输出端连接图像采集卡(12)的第一视频信号输入端,精测CCD(6)的视频信号输出端连接图像采集卡(12)的第二视频信号输入端,准直CCD(8)的视频信号输出端连接图像采集卡(12)的第三视频信号输入端,图像采集卡(12)的数据控制输出输入总线端连接计算机(13)的数据控制输出输入总线端。
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