| 发明名称 | 一种基于错位相关原理的物体应变测量方法及装置 | ||
| 摘要 | 一种基于错位相关原理的物体应变测量方法和系统，含有数字成像设备、定焦镜头、楔形镜和具有双标记的被测试件。该测量方法首先在被测物体表面制作代表拉伸变形的双标记，然后采用一块楔形镜改变物体表面反射光线的方向，改变方向后的光线通过定焦镜头进入数字成像设备中，在同一个数字成像设备的靶平面上得到具有错位量的双标记的图像；通过数字相关方法计算双标记的位移得到的物体的应变。本发明有效提高了图像质量，改善了数字相关方法的精度；根据数字相关方法计算具有错位量的标记图像的位移，得到物体的应变，提高应变的求解精度。可以实现操作简单方便，在复杂工作环境下进行现场实时的高精度、大量程的无损应变测量。 | ||
| 申请公布号 | CN101033949A | 申请公布日期 | 2007.09.12 |
| 申请号 | CN200710098791.6 | 申请日期 | 2007.04.27 |
| 申请人 | 清华大学 | 发明人 | 戴福隆;谢惠民;花韬;方岱宁 |
| 分类号 | G01B11/16(2006.01) | 主分类号 | G01B11/16(2006.01) |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 1.一种基于错位相关原理的物体应变测量方法，其特征在于该测量方法按如下步骤进行：1)首先在被测物体表面制作代表拉伸变形且标距为l的双标记，然后采用一块楔形镜改变物体表面反射光线的方向，改变方向后的光线通过定焦镜头进入数字成像设备中，在同一个数字成像设备的靶平面上得到具有错位量的双标记的图像；2)通过数字相关方法计算双标记的位移δ<sub>1</sub>和δ<sub>2</sub>，双标记变形为Δl＝δ<sub>2</sub>-δ<sub>1</sub>，得到物体的应变为<img file="A2007100987910002C1.GIF" wi="359" he="122" /> | ||
| 地址 | 100084北京市100084信箱82分箱清华大学专利办公室 | ||