发明名称 二维位移传感器及应用的大量程表面形貌测量装置
摘要 本发明公开了一种二维位移传感器及应用的大量程表面形貌测量装置,它包括固定支架(1),在固定支架(1)上通过平行簧片(2)连接有可动支架(3),2个支架之间安装有水平位移传感器(11),可动支架(3)上安装杠杆(5),杠杆(5)的一端固定触针(6),杠杆(5)的另一端与可动支架(3)之间安装有垂直位移传感器(8)。本发明的主传感器测量触针垂直方向的位移的同时,辅助传感器可以检测出触针的水平偏移,使触针在每一个采样间隔中都能顺利地划过陡峭轮廓表面。具有能够使触针顺利划过陡峭轮廓表面,对各种复杂表面进行大量程和高精度测量,测量误差小等优点,适合于各种复杂表面轮廓的测量。
申请公布号 CN101029817A 申请公布日期 2007.09.05
申请号 CN200610201125.6 申请日期 2006.11.21
申请人 贵州大学 发明人 杨旭东;王生怀;李家春;谢铁邦
分类号 G01B7/28(2006.01);G01B5/20(2006.01);G01B21/20(2006.01);G01C7/02(2006.01) 主分类号 G01B7/28(2006.01)
代理机构 贵阳中新专利商标事务所 代理人 郭防
主权项 1.一种二维位移传感器,它包括固定支架(1),其特征是:在固定支架(1)上通过平行簧片(2)连接有可动支架(3),固定支架(1)和可动支架(3)之间安装有水平位移传感器(11),可动支架(3)上安装杠杆支点(4),杠杆支点(4)上安装杠杆(5),杠杆(5)的一端固定触针(6),杠杆(5)的另一端与可动支架(3)之间安装有垂直位移传感器(8)。
地址 550003贵州省贵阳市蔡家关贵州大学科技处