发明名称 | 键盘装置 | ||
摘要 | 一种键盘装置(2),具有:键,其由转动自由地保持在框架(10)的键安装部(10K)的白键(20)和黑键(40)构成;质量体(50W,50B),其转动自由地被保持在质量体安装部(10G),利用在键(20,40)的下方设置的质量体驱动部(29,45)驱动;质量体下限挡块(84)和质量体上限挡块(83),其限制质量体的转动范围。该质量体(50W,50B)具有质量集中部(52Wc,52Bc),该质量体集中部相比于框架(10)的设置了质量体上限挡块(83)的位置向键长度方向的外方突出设置,并且该质量集中部(52Wc,52Bc)在最上升位置的上表面和白键(20)的主体后端部上表面实质上为同一平面。 | ||
申请公布号 | CN2938313Y | 申请公布日期 | 2007.08.22 |
申请号 | CN200620121263.9 | 申请日期 | 2006.07.21 |
申请人 | 雅马哈株式会社 | 发明人 | 西田贤一 |
分类号 | G10H1/34(2006.01) | 主分类号 | G10H1/34(2006.01) |
代理机构 | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人 | 郑小军 |
主权项 | 1.一种键盘装置,具有:框架,其具有键安装部和质量体安装部;键,其由经由键转动部而转动自由地被保持在上述键安装部上的白键和黑键构成;质量体,其由被设置在该键的下方的驱动部驱动,并经由质量体转动部而转动自由地被保持在上述质量体安装部上;质量体下限挡块和质量体上限挡块,其被设置在上述框架上,通过该质量体下限挡块和质量体上限挡块来限制上述键的驱动时以及非驱动时的上述质量体的转动范围,其特征在于,上述质量体具有质量集中部,使该质量集中部相比于上述框架的设置了上述质量体上限挡块的位置而向着键长度方向的外方突出设置,并且上述白键的主体后端部上表面和上述质量集中部在最上升位置的上表面实质上为同一平面。 | ||
地址 | 日本静冈县浜松市 |