| 发明名称 | 用于产生相位对比图像的X射线装置的焦点/检测器系统 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种X射线装置的焦点/检测器系统和用于产生投影或断层造影相位对比图像的方法，包括：具有焦点(F<SUB>1</SUB>)和设置在焦点一侧的源光栅(G<SUB>0</SUB>)的辐射源(2)，该源光栅设置在辐射路径中并产生射线相干的X射线(S<SUB>i</SUB>)场；具有相位光栅(G<SUB>1</SUB>)和检测器(D<SUB>1</SUB>)的光栅/检测器装置，该相位光栅具有平行于源光栅(G<SUB>0</SUB>)的光栅线用以产生相干图案，该检测器具有多个平面设置的检测器元件(E<SUB>i</SUB>)用以测量相位光栅后的取决于位置的辐射强度；检测器元件(E<SUB>i</SUB>)由多个纵向闪烁条纹(SS<SUB>i</SUB>)形成，闪烁条纹平行于相位光栅(G<SUB>1</SUB>)的光栅线并且具有小周期(p<SUB>s</SUB>)，该周期的整数倍对应于相干图案的、由相位光栅形成的平均大周期(p<SUB>2</SUB>)。 | ||
| 申请公布号 | CN101011254A | 申请公布日期 | 2007.08.08 |
| 申请号 | CN200710007958.3 | 申请日期 | 2007.02.01 |
| 申请人 | 西门子公司 | 发明人 | 克里斯琴·戴维;比约恩·海斯曼;埃克哈德·亨普尔;弗朗兹·法伊弗;斯蒂芬·波普斯库 |
| 分类号 | A61B6/00(2006.01);G01N23/04(2006.01);G01N23/20(2006.01);G01N23/06(2006.01);H05G1/02(2006.01);H05G1/62(2006.01);G01T1/28(2006.01);G01T7/00(2006.01);G21K1/06(2006.01);G21K1/02(2006.01) | 主分类号 | A61B6/00(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 邵亚丽;李晓舒 |
| 主权项 | 1.一种用于产生投影或断层造影相位对比图像的X射线装置的焦点/检测器系统，至少包括：1.1.具有焦点(F1)和设置在焦点一侧的源光栅(G0)的辐射源(2)，其中该源光栅设置在辐射路径中并产生射线相干的X射线(Si)场，1.2.具有相位光栅(G1)和检测器(D1)的光栅/检测器装置，其中该相位光栅具有平行于源光栅(G0)的光栅线用以产生相干图案，该检测器具有多个平面设置的检测器元件(Ei)用以测量在相位光栅后的、取决于位置的辐射强度，1.3.其中，所述检测器元件(Ei)由多个纵向闪烁条纹(SSi)构成，这些闪烁条纹平行于相位光栅(G1)的光栅线并且具有小周期(ps)，该周期的整数倍对应于相干图案的、由相位光栅形成的平均大周期(p2)。 | ||
| 地址 | 德国慕尼黑 | ||