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Eine Apparatur zum Messen der Eigenschaften eines FET durch Erzeugen eines Impulses, der an das Gate G des FET angelegt wird, und Messen der Spannung in Abhängigkeit von dem Drainstrom, der als Reaktion auf den Impuls zum FET fließt, umfassend einen Impulsgenerator zum Erzeugen eines Impulses; ein hinter dem Impulsgenerator angeordnetes Richtungselement und eine Spannungsmessvorrichtung zum Messen der Spannung.
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