| 主权项 |
1.一种电路测试装置,其系包括: 至少一个测试仪器; 一被耦合至该至少一个测试仪器之滙流排主电路, 该滙流排主电路系被设计成可接收来自该至少一 个测试仪器之量测资料,且在来自该至少一个测试 仪器之起始时,封包该量测资料以提供封包后的资 料;以及 一被耦合以从该滙流排主电路接收该封包后的资 料之切换/处理电路,以处理该封包后的资料来提 供处理后的资料,且该切换/处理电路被设计以将 该处理后的资料连通至一主电脑。 2.如申请专利范围第1项之电路测试装置,其中该封 包后的资料系包括: 一对应于该量测资料之资料封包;以及 一与该资料封包相关连之标题的延伸标题描述符 部份,该延伸标题描述符系包括一对应于将在该资 料封包上进行之处理的类型之处理辨识器。 3.如申请专利范围第1项之电路测试装置,其中该切 换/处理电路系包括: 一切换电路,其系被耦合至该滙流排主电路且被设 计以将该封包后的资料定路线;以及 至少一个被耦合至该切换电路之处理器,该至少一 个处理器系被设计以接收该封包后的资料并且处 理该封包后的资料以提供该处理后的资料。 4.如申请专利范围第3项之电路测试装置,其中该至 少一个处理器系被设计以接收该封包后的资料并 且从该封包后的资料分离一资料封包以及一延伸 标题描述符,且该至少一个处理器可更进而被设计 以响应于该延伸标题描述符来处理该资料封包以 提供该处理后的资料。 5.如申请专利范围第3项之电路测试装置,其中该切 换/处理电路更进而包括一被耦合至该切换电路之 第一缓冲记忆器。 6.如申请专利范围第5项之电路测试装置,其中该第 一缓冲记忆器系被耦合至该至少一个处理器。 7.如申请专利范围第1项之电路测试装置,其中该滙 流排主电路系被耦合至一量测记忆器,且该量测记 忆器系被设计以从该至少一个测试仪器接收该量 测资料并且被设计以提供该量测资料至该滙流排 主电路。 8.如申请专利范围第1项之电路测试装置,其中该处 理后的资料系包括被储存的资料。 9.如申请专利范围第1项之电路测试装置,其中该滙 流排主电路及该切换/处理电路系在个别的电路板 上。 10.如申请专利范围第1项之电路测试装置,其中该 滙流排主电路及该切换/处理电路系在被包括在该 至少一个测试仪器内之一或多个电路板上。 11.一种用于处理一测试仪器内的量测资料之方法, 其系包括: 捕捉在一测试仪器内之量测资料,该量测资料系对 应于被该测试仪器所执行之测试中元件之一或多 个功能测试; 利用该测试仪器来开始对于该量测资料之操作,且 该些操作系包括: 以一滙流排主电路封包该量测资料为封包后的资 料;并且 传送该封包后的资料至一切换/处理电路。 12.如申请专利范围第11项之方法,其中该起始更进 而包括: 将该封包后的资料定路线至一在该切换/处理电路 内之处理器;并且 以该处理器处理该封包后的资料以提供处理后的 资料。 13.如申请专利范围第12项之方法,其中该封包系包 括以该滙流排主电路封包该量测资料成为封包后 的资料,该封包后的资料系包括一资料标题,且其 中该处理系包括以该处理器处理该封包后的资料, 该处理系响应于该标题来进行的。 14.如申请专利范围第12项之方法,其中该处理系包 括: 预先决定与该一或多个功能测试相关之通过及失 败临限値;并且 将该资料封包关连于该通过及失败临限値以提供 被储存的资料。 15.如申请专利范围第12项之方法,其中该封包系包 括: 产生一对应于该量测资料之资料封包;并且 产生一与该资料封包相关连之延伸标题描述符,该 延伸标题描述符系包括一对应于将被执行在该资 料封包上之处理的类型之处理辨识器。 16.一种测试一电子电路之方法,其系包括: 以一电路测试装置测试该电子电路,其中该测试系 包括: 捕捉在一测试仪器内之量测资料,该量测资料系对 应于被该测试仪器所执行之电子电路之一或多个 功能测试; 利用该测试仪器来开始对于该量测资料之操作,且 该些操作系包括: 以一滙流排主电路封包该量测资料成为封包后的 资料; 传送该封包后的资料至一切换/处理电路;并且 产生该一或多个功能测试之一通过/失败判断。 17.如申请专利范围第16项之方法,其中该起始更进 而包括: 将该封包后的资料定路线至一在该切换/处理电路 内之处理器;并且 以该处理器处理该封包后的资料以提供处理后的 资料。 18.如申请专利范围第17项之方法,其中该封包系包 括以该滙流排主电路封包该量测资料成为封包后 的资料,该封包后的资料系包括一资料标题,且其 中该处理系包括以该处理器处理该封包后的资料, 该处理系响应于该标题来进行的。 19.如申请专利范围第17项之方法,其中该处理系包 括: 预先决定与该一或多个功能测试相关之通过及失 败临限値;并且 将该资料封包关连于该通过及失败临限値以提供 被储存的资料。 20.如申请专利范围第17项之方法,其中该封包系包 括: 产生一对应于该量测资料之资料封包;并且 产生一与该资料封包相关连之延伸标题描述符,该 延伸标题描述符系包括一对应于将被执行在该资 料封包上之处理的类型之处理辨识器。 图式简单说明: 第1图系一习知自动测试设备(ATE)之方块图; 第2图系根据本发明之一示范性自动测试设备之方 块图; 第3图系被提供作为在第2图之自动测试设备之部 份的一切换/处理电路之示范性实施例的方块图; 第3A图系另一被提供作为在第2图之示范性自动测 试设备之部份的一切换/处理电路之示范性实施例 的方块图; 第3B图系尚有另一被提供作为在第2图之示范性自 动测试设备之部份的一切换/处理电路之示范性实 施例的方块图; 第3C图系尚有另一被提供作为在第2图之示范性自 动测试设备之部份的一切换/处理电路之示范性实 施例的方块图;以及 第4图系一用于被提供相关于在第2图之示范性自 动测试设备之量测资料捕捉及量测资料传送之一 示范性处理的流程图。 |
