发明名称 布线不良检查方法以及布线不良检查装置
摘要 一种检查装置,检测在形成像素部之前的TFT基板中的栅极布线的断线及短路。它是检查TFT基板(1)中的栅极布线(2)的不良的检查装置,该TFT基板(1)具有作为检查对象的多条栅极布线(2)和在与栅极布线(2)之间可分别构成布线间电容的多条COM布线3。它包括:对栅极布线(1)施加电压的脉冲发生部;检测在栅极布线(2)和COM布线(3)之间的布线间电容的电容检测器(50);以及在COM布线(3)和电容检测器(5)之间连接的电容器。
申请公布号 CN1996032A 申请公布日期 2007.07.11
申请号 CN200710001463.X 申请日期 2007.01.08
申请人 NEC液晶技术株式会社 发明人 鹭山惠
分类号 G01R31/02(2006.01);G01R27/26(2006.01) 主分类号 G01R31/02(2006.01)
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人 陆锦华;谢丽娜
主权项 1.一种在具有待检查的多个第1布线和与各上述第1布线分别构成电容的多个第二布线的基板中,检查上述第1布线是否不良的方法,包括:(a)对上述第1布线或上述第2布线施加电压;以及(b)在进行上述步骤(a)时,检测在上述第1布线和上述第2布线之间构成的电容。
地址 日本神奈川县川崎市