发明名称 |
布线不良检查方法以及布线不良检查装置 |
摘要 |
一种检查装置,检测在形成像素部之前的TFT基板中的栅极布线的断线及短路。它是检查TFT基板(1)中的栅极布线(2)的不良的检查装置,该TFT基板(1)具有作为检查对象的多条栅极布线(2)和在与栅极布线(2)之间可分别构成布线间电容的多条COM布线3。它包括:对栅极布线(1)施加电压的脉冲发生部;检测在栅极布线(2)和COM布线(3)之间的布线间电容的电容检测器(50);以及在COM布线(3)和电容检测器(5)之间连接的电容器。 |
申请公布号 |
CN1996032A |
申请公布日期 |
2007.07.11 |
申请号 |
CN200710001463.X |
申请日期 |
2007.01.08 |
申请人 |
NEC液晶技术株式会社 |
发明人 |
鹭山惠 |
分类号 |
G01R31/02(2006.01);G01R27/26(2006.01) |
主分类号 |
G01R31/02(2006.01) |
代理机构 |
中原信达知识产权代理有限责任公司 |
代理人 |
陆锦华;谢丽娜 |
主权项 |
1.一种在具有待检查的多个第1布线和与各上述第1布线分别构成电容的多个第二布线的基板中,检查上述第1布线是否不良的方法,包括:(a)对上述第1布线或上述第2布线施加电压;以及(b)在进行上述步骤(a)时,检测在上述第1布线和上述第2布线之间构成的电容。 |
地址 |
日本神奈川县川崎市 |