发明名称 |
开发半导体集成电路测试程序的方法和结构 |
摘要 |
公开了一种用于在模块测试系统中管理模式目标文件的方法。该方法包括提供一个模块测试系统,其中该模块测试系统包括一个系统控制器,用于控制至少一个站点控制器,且其中所述至少一个站点控制器控制至少一个测试模块和其对应的被测试设备(DUT)。该方法还包括创建一个目标文件管理框架,用于在设备提供商提供的模式编译器和模块测试系统之间建立一个标准接口;接收模式源文件;根据该模式源文件,使用该目标文件管理框架创建一个模式目标图元文件;以及使用该模式目标图元文件,通过测试模块测试被测试的设备。 |
申请公布号 |
CN1989417A |
申请公布日期 |
2007.06.27 |
申请号 |
CN200580016396.8 |
申请日期 |
2005.05.23 |
申请人 |
株式会社爱德万测试 |
发明人 |
哈森吉特·辛格;安康·普拉马尼克;马克·埃尔斯顿;田原善文;足立敏明 |
分类号 |
G01R31/319(2006.01);G01R31/3183(2006.01);G06F11/26(2006.01);G06F17/50(2006.01) |
主分类号 |
G01R31/319(2006.01) |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 |
代理人 |
杨生平;杨红梅 |
主权项 |
1.一种用于管理模块化测试系统中模式目标文件的方法,包括:提供模块化测试系统,其中该模块化测试系统包括用于控制至少一个站点控制器的系统控制器,而且其中该至少一个站点控制器控制至少一个测试模块及其对应的被测试设备(DUT);创建用于在厂家提供的模式编译器和模块化测试系统之间建立标准接口的目标文件管理(OFM)框架;接收模式源文件;基于该模式源文件利用OFM框架创建模式目标元文件;及利用模式目标元文件通过测试模块测试所述DUT。 |
地址 |
日本东京都 |