发明名称 |
Verfahren zur Eliminierung oder Verringerung der Oxid- und/oder Russabscheidung in kohlenstoffhaltigen Schichten |
摘要 |
Eine Ausführungsform der vorliegenden Erfindung stellt ein Verfahren zur Abscheidung einer kohlenstoffhaltigen Schicht auf einer Siliciumoberfläche bereit, bei dem sich während der Abscheidung eine (i) weitgehend siliciumoxidfreie oder einen verringerten Oxidgehalt aufweisende Grenzfläche zwischen dem Silicium und der kohlenstoffhaltigen Schicht ergibt. DOLLAR A Gemäß einer anderen Ausführungsform stellt die vorliegende Erfindung ein Verfahren zur Abscheidung einer kohlenstoffhaltigen Schicht bereit, bei dem der Abscheidungsprozeß weitgehend rußfrei (teilchenfrei) ist oder die Rußmenge verringert.
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申请公布号 |
DE102006010512(A1) |
申请公布日期 |
2007.06.21 |
申请号 |
DE200610010512 |
申请日期 |
2006.03.07 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
DUESBERG, GEORG;KREUPL, FRANZ;LIEBAU, MAIK;UNGER, EUGEN |
分类号 |
C23C16/26;C23C16/02 |
主分类号 |
C23C16/26 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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