发明名称 测试图像传感器封装的装置、单元和方法
摘要 本发明涉及一种用于测试图像传感器封装的装置、单元和方法,其可在所述图像传感器封装组装到相机模块中之前,自动测试所述图像传感器封装是否有缺陷。根据本发明的用于测试图像传感器封装的装置包括:底座单元,图像传感器封装安装在其上以供测试;测试部分,其具有在所述图像传感器封装上方的透镜和光源以对所述图像传感器封装执行断路与短路测试和图像测试;和控制与处理单元,其具有用于对所述图像传感器封装执行所述断路与断路测试和所述图像测试的测试器模块。根据本发明的用于测试图像传感器封装的方法包括以下步骤:将所述图像传感器封装连接到测试器模块以便执行测试来检查所述图像传感器封装是否有缺陷;和在通过透镜将光照射在所述图像传感器封装上或阻挡所述光的同时,对所述图像传感器封装执行断路与短路测试和图像测试。
申请公布号 CN1982904A 申请公布日期 2007.06.20
申请号 CN200610098477.3 申请日期 2006.07.07
申请人 艾普特佩克股份有限公司 发明人 金荣锡;李焕哲;朱宰哲
分类号 G01R31/00(2006.01);G01R31/02(2006.01);G01R31/26(2006.01);G01M11/00(2006.01) 主分类号 G01R31/00(2006.01)
代理机构 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人 寿宁;张华辉
主权项 1.一种用于测试图像传感器封装的装置,其特征在于其包括:底座单元,图像传感器封装安装于其上以供测试;测试部分,其具有在所述图像传感器封装上方的透镜和光源,以便对所述图像传感器封装执行断路与短路测试和图像测试;和控制与处理单元,其具有用于对所述图像传感器封装执行所述断路与短路测试和所述图像测试的测试器模块。
地址 韩国京畿道安养市东安区飞山洞1112-1安养建设大楼1607号