发明名称 制造自对准纳米柱形空气桥的方法以及由之制造的结构
摘要 本发明涉及制造自对准纳米柱形空气桥的方法以及由之制造的结构,尤其是一种自衬底上制造低k、超低k和极低k多层互连结构的方法,其中,用电介质将互连线路结构在横向上隔离开,所述电介质具有竖直取向的纳米级空隙,这些空隙是通过使用底层光刻构图和蚀刻技术穿透所述电介质,并用电介质淀积步骤封闭穿透孔的顶部而形成的。这些线路由下方的实心的或者被构图的电介质结构支持。该方法避免了在制造导体图案之后与空气隙的形成有关的问题,以及与传统的低k、超低k和极低k电介质的集成有关的问题,在形成所述互连图案之前,所述电介质具有空隙度。
申请公布号 CN1322573C 申请公布日期 2007.06.20
申请号 CN200510004583.6 申请日期 2005.01.18
申请人 国际商业机器公司 发明人 马修·E·科尔伯恩;萨特亚纳拉亚纳·V·尼塔;萨姆帕斯·普鲁肖萨曼
分类号 H01L21/768(2006.01);H01L23/522(2006.01) 主分类号 H01L21/768(2006.01)
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 李春晖
主权项 1.一种制造纳米柱形空气桥结构的方法,包括下述步骤:在衬底表面上形成至少一种电介质的层;形成一组线槽,槽底表面在所述电介质层中,所述线槽中最接近的线槽隔开一个基本规则距离;将纳米级图案转移到包含所述线槽的电介质中;在所述电介质层的表面上淀积桥层,以形成相邻线路之间的机械连接;在所述线槽内形成一组穿过所述电介质层的通孔;对所述通孔和线槽淀积一个里衬层;用导电填充金属填充所述通孔和线槽,以形成一组金属线;通过抛光将所述金属线和里衬层平面化,使得所述金属与所述桥层的顶部共面;以及用电迁移和/或扩散阻挡层覆盖所述金属线,以形成所述纳米柱形空气桥结构。
地址 美国纽约