发明名称 | 测试装置与测试方法 | ||
摘要 | 在此提供一种测试被测试记忆体的测试装置,其具有脚端介面电路部、图案产生部与判断部,脚端介面电路部用以传送信号至被测试记忆体与从被测试记忆体中接收信号,图案产生部用以经由脚端介面电路部输入测试图案至被测试记忆体,判断部用以经由脚端介面电路部接收被测试记忆体的输出信号以依据所输出信号来判断被测试记忆体是否为无缺陷,其中脚端介面电路部具有内部电路、第一传输线与第一开关,内部电路用以输入信号至被测试记忆体与从被测试记忆体中输出信号,第一传输线用以连接内部电路与被测试记忆体,第一开关用以当未测试被测试记忆体时连接第一传输线与地电位,并且在测试被测试记忆体时将第一传输线与地电位分开。 | ||
申请公布号 | TW200723287 | 申请公布日期 | 2007.06.16 |
申请号 | TW095144933 | 申请日期 | 2006.12.04 |
申请人 | 爱德万测试股份有限公司 | 发明人 | 土井优;佐藤新哉 |
分类号 | G11C29/08(2006.01) | 主分类号 | G11C29/08(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |